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収束イオンビームを用いた二次イオン質量分析における二次イオン収率の研究

収束イオンビームを用いた二次イオン質量分析における二次イオン収率の研究
使用聚焦离子束进行二次离子质谱分析中二次离子产率的研究
批准号：
62750718
负责人：
尾張 真則
金额：
$0.58万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1987
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1987 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-62750718/
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3D shave-off分析法の開発と装置化
  • 批准号：
    19H02743
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $11.32万
  • 财政年份：
    2019
  • 负责人：
    尾張 真則
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
微小領液高感度三次元分析法の研究
  • 批准号：
    08650960
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额：
    $1.22万
  • 财政年份：
    1996
  • 负责人：
    尾張 真則
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
サブミクロン二次イオン質量分析装置による微粒子の定量分析
  • 批准号：
    01750717
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额：
    $0.51万
  • 财政年份：
    1989
  • 负责人：
    尾張 真則
  • 依托单位：
    The University of Tokyo
固体表層におけるイオン衝撃・回復過程の温度依存性の研究
  • 批准号：
    61750740
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额：
    $0.58万
  • 财政年份：
    1986
  • 负责人：
    尾張 真則
  • 依托单位：
    The University of Tokyo