ファイバ-オプティクスを用いた非破壊検査用ESPIカメラ実用機の開発
ファイバ-オプティクスを用いた非破壊検査用ESPIカメラ実用機の開発
批准号:
01850026
负责人:
米村 元喜
金额:
$1.34万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research (B)
财政年份:
1989
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1989 至 1990
中文摘要
本研究の目的は、光ファイバ-、光カップラ-やCCDカメラ等を構成要素とするインテグレイト化され、外部からの振動・ノイズに影響されないRigidな構造の電子的スペックル干渉(ESPI)カメラと、多種多様のデ-タ処理用のソフトウエアを備えたシステムを開発し、これを非破壊検査、材料試験、医用診断の分野に応用することである。平成2年度の成果は次の通りである。(1)本研究のESPIカメラ・システムのスペックル干渉縞を得るための計算はパソコンのCPUを利用していたが一つのスペックル干渉縞パタ-ンを得るには10秒程度かかり、連続的に変化してゆく有様を観察することはできなかった。本年度はリアルタイムで観察しVTRに記録できるように専用の計算回路を製作し、より実用性を高めた。(2)本システムの光学系の改良を行い、参照光と物体光の重ね合わせにホログラム光カップラ-を用い、参照光の導入に偏波面保存ファイバ-を用いるなどコンパクト化を行い安定性を高めた。(2)非破壊検査・材料試験への応用としてファイバ-スコ-プを用いてパイプ内部の加圧時の変形、タイヤの圧力変化による変形による傷発見を行った。またクラックのある種々の形状をした金属材料を加振して、振動モ-ドの差異を計測することができたので実際分野への応用の見込みが得られた。本システムは装置としては当初予定したものよりさらにいろいろな機能をもち実用性のあるものとして完成したが、非破壊検査、材料試験、医用診断の分野への実用的応用に関してはまだ十分にデ-タを取り終えておらず、さらに平成3年度以降も多種多様の対象についてデ-タを集積して実用化を進める。
英文摘要
本研究の目的は、光ファイバ-、光カップラ-やCCDカメラ等を構成要素とするインテグレイト化され、外部からの振動・ノイズに影響されないRigidな構造の電子的スペックル干渉(ESPI)カメラと、多種多様のデ-タ処理用のソフトウエアを備えたシステムを開発し、これを非破壊検査、材料試験、医用診断の分野に応用することである。平成2年度の成果は次の通りである。(1)本研究のESPIカメラ・システムのスペックル干渉縞を得るための計算はパソコンのCPUを利用していたが一つのスペックル干渉縞パタ-ンを得るには10秒程度かかり、連続的に変化してゆく有様を観察することはできなかった。本年度はリアルタイムで観察しVTRに記録できるように専用の計算回路を製作し、より実用性を高めた。(2)本システムの光学系の改良を行い、参照光と物体光の重ね合わせにホログラム光カップラ-を用い、参照光の導入に偏波面保存ファイバ-を用いるなどコンパクト化を行い安定性を高めた。(2)非破壊検査・材料試験への応用としてファイバ-スコ-プを用いてパイプ内部の加圧時の変形、タイヤの圧力変化による変形による傷発見を行った。またクラックのある種々の形状をした金属材料を加振して、振動モ-ドの差異を計測することができたので実際分野への応用の見込みが得られた。本システムは装置としては当初予定したものよりさらにいろいろな機能をもち実用性のあるものとして完成したが、非破壊検査、材料試験、医用診断の分野への実用的応用に関してはまだ十分にデ-タを取り終えておらず、さらに平成3年度以降も多種多様の対象についてデ-タを集積して実用化を進める。
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M.Yonemura: "Nonーdestructive testing by electronic speckle pattern interferometry" Applied Optics. (1991)
M.Yonemura:“电子散斑干涉测量法的无损检测”应用光学 (1991)。
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
M.Yonemura: "Development of a realーtime electronic speckle pattern interferometry." Applied Optics. (1991)
M.Yonemura:“实时电子散斑图案干涉测量法的开发”(应用光学)。
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
M.Yonemura: "Fringe Visibility in electronic Speckle pattern interferometry." Proceedings of Society of PhotoーOptical Instrumentation Engineers.814. 352-356 (1987)
M. Yonemura:“电子散斑图案干涉测量中的条纹可见性”。光电仪器工程师学会论文集。814(1987 年)。
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
M.Yonemura: "Fringe Visibility and Information Quantity in Electronic Speckle Pattern Interferometry." Applied Optics. (1990)
M.Yonemura:“电子散斑干涉测量中的条纹可见性和信息量。”
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
M.Yonemura and S.Hagihara: "Fringe Visibility in Electronic Speckle pattern Interferometry." Proceedings of Society of Photo-Optical Instrumetation Engineers. 814. 352-356 (1987)
M.Yonemura 和 S.Hagihara:“电子散斑干涉测量中的条纹可见性”。
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
共 9 条
ファイバーオプティクスを用いた非破壊検査用ESPIカメラ実用機の開発
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批准号:61850020
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项目类别:Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
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资助金额:$3.07万
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财政年份:1986
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负责人:米村 元喜
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依托单位:
電子的スペックル干渉による燃焼場に関連した微粒子群の計測法に関する研究
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批准号:59110004
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$1.28万
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财政年份:1984
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负责人:米村 元喜
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依托单位:
電子的スペックル干渉による燃焼場に関連した微粒子群の計測法に関する研究
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批准号:58116005
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$1.54万
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财政年份:1983
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负责人:米村 元喜
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依托单位:
ランダムな構造をもつ物体表面の統計的偏光解析
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批准号:56550032
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额:$0.45万
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财政年份:1981
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负责人:米村 元喜
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依托单位:
ホログラフィ干渉による表面アラサの測定と偏光解析
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批准号:X00095----465011
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (D)
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资助金额:$0.29万
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财政年份:1979
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负责人:米村 元喜
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依托单位:
ランダムパターンを利用した等変位線および等高線の形成法
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批准号:X00210----275021
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.24万
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财政年份:1977
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负责人:米村 元喜
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依托单位:
干渉縞の Visibility を利用したホログラフィ干渉による変形測定法
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批准号:X00210----175025
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.22万
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财政年份:1976
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负责人:米村 元喜
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依托单位: