透過電子分光法による半導体表面上の金属超薄膜の微視的解析
透過電子分光法による半導体表面上の金属超薄膜の微視的解析
使用透射电子能谱对半导体表面超薄金属膜进行显微分析
批准号：
63750022
负责人：
長谷川 繁彦
金额：
$0.51万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1988
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1988 至 --
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赤外線照射走査型トンネル顕微鏡による表面吸着原子種の同定
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批准号：08875008
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项目类别：Grant-in-Aid for Exploratory Research
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资助金额：$1.15万
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财政年份：1996
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负责人：長谷川 繁彦
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依托单位：