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走査電子ビーム変調反射分光法による半導体バンド構造の顕微測定

走査電子ビーム変調反射分光法による半導体バンド構造の顕微測定
使用扫描电子束调制反射光谱显微测量半导体能带结构
批准号:
03750006
负责人:
目良 裕
金额:
$0.64万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份:
1991
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1991 至 --
关键词:

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STM-TERSによるクルクミン誘導体のアミロイドβ凝集抑制機構の研究
  • 批准号:
    24K08199
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额:
    $2.91万
  • 财政年份:
    2024
  • 负责人:
    目良 裕
  • 依托单位:
欠陥荷電状態制御による半導体発光素子の長寿命化
  • 批准号:
    11750006
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额:
    $1.34万
  • 财政年份:
    1999
  • 负责人:
    目良 裕
  • 依托单位:
走査トンネル顕微鏡を用いたトンネル電子ルミネッセンス法のシリコンナノ構造への応用
  • 批准号:
    09650009
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额:
    $2.18万
  • 财政年份:
    1997
  • 负责人:
    目良 裕
  • 依托单位: