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Messung elektronischer Lebensdauern an Adsorbaten auf Metalloberflächen mit Rastertunnelmikroskopie

Messung elektronischer Lebensdauern an Adsorbaten auf Metalloberflächen mit Rastertunnelmikroskopie
使用扫描隧道显微镜测量金属表面吸附物的电子寿命
批准号:
5252008
负责人:
Professor Dr. Richard Berndt
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Priority Programmes
财政年份:
2000
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1999-12-31 至 2005-12-31

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Mit einem Rastertunnelmikroskop (RTM) zum Betrieb bei tiefer Temperatur (T = 4.6 K) im Ultrahochvakuum werden induzierte Elektronentransferprozesse in Adsorbaten auf Metalloberflächen untersucht. Mit der Spitze des RTM als Quelle von Elektronen (oder Löchern) werden lokal elektronisch angeregte Zustände in Adsorbat und Substrat präpariert und gemessen. Aus der Breite tunnelspektroskopischer Strukturen und der Zerfallslänge von Streuwellenmustern werden Lebensdauern bestimmt. Tunneln in antibindenden Resonanzen wird verwendet, um Mobilität oder chemische Veränderungen von Adsorbaten auszulösen und zu messen. Die Messungen erfolgen an einzelnen Alkali-Adatomen (Zusammenarbeit mit M. Aeschlimann), einfachen Molekülen, daraus mit Atommanipulation erzeugten Gebilden (z.B. Dimeren) und Adsorbaten auf Oxidmonolagen.
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会议论文
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  • 批准号:
    5415076
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2003
  • 负责人:
    Professor Dr. Richard Berndt
  • 依托单位:
Rastertunnelmikroskopie von Metallchalkogeniden und organischen Molekülen
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