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アルミニウムカ-バイトラジカルの二重項電子励起状態の分光学的研究

碳化铝自由基双重态电子激发态的光谱研究

基本信息

批准号：
06740438
负责人：
藤竹正晴
金额：
$ 0.58万
依托单位：
Kanazawa University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1994
资助国家：
日本
起止时间：
1994 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

アルミニウムカ-バイトラジカル(AlC)では、5種類もの二重項電子励起状態(a〜e)が、X^4Σ^-基底状態とその約18000cm^<-1>上に存在するA^4Π状態との間の低エネルギー領域に存在しているものと予想されており、それら二重項状態の情報を実験的に把握する事は、このラジカルの性質を理解する上で重要である。そこで、アルミニウムカ-バイトラジカルの二重項電子励起状態を分光学的に検出し、それらの状態の正確な情報を得る事を目的として、d^2Π-a^2Πおよびe^2Π-a^2Πシステムの吸収スペクトルの観測を試みた。しかしながら、現在までのところ、アルミニウムカ-バイドラジカルのものと思われるスペクトルの観測には成功していない。アルミニウムカ-バイトラジカルの生成には、AlとAl_4C_3の混合物を用いて作った電極をラジカル源として、不活性ガス中で放電する方法を用いた。この方法は、BrazierがこのラジカルのB-X発光スペクトルの観測に成功した方法であるが、今回の実験では、装置の都合上放電の条件が異なる点と、遷移の始状態がa準安定状態であるという点を考慮すると、生成法が適切であったかどうかは不明である。d^2Π-a^2Πおよびe^2Π-a^2Πシステムの観測は、ab initio計算の予想にもとづき、それぞれ1.3μmと1.5μmの波長域で試みた。1.3μm領域の測定では、新たに200cm^<-1>以上の連続スペクトルの観測が可能な外部共振器型チューナブル半導体レーザーを光源に用いた分光計を整備し使用したが、測定範囲が十分であったは言えない。ただ測定に用いたレーザーが、故障により長い期間使用不可能な状態であったため、生成法や測定条件の検討などを含め、十分な実験を行なえなかった事は残念である。現在、生成法と測定条件の検討を行う一方、新たな外部共振器型チューナブル半導体レーザーを導入し、さらに広い範囲の測定を行う計画である。

The double-term electron excited states (a ~ e) of five kinds of electrons exist at about 18000 cm above the X^4Σ^-substrate <-1>state. It is important to understand the properties of the double-term electron excited states. The double-term electron excitation state of the sample is detected by the optical spectrum, and the correct information of the sample state is obtained. The test was successful in the first place. A method for the formation of a mixture of Al and Al_4C_3 was developed by using a mixture of Al and Al_4C_3 as an electrode. This method is based on Brazier's theory of B-X ray emission detection. The method of generation is appropriate. The condition of the device is different. The initial state of migration is a quasi-stable state. d^2Π-a^2 π-e^2Π-a^2 π-system measurements, ab initio calculations and calculations are performed in the wavelength range of 1.3μm to 1.5μm. The measurement in the 1.3μm area is new and the measurement is possible in the 200 cm and above connection. The spectrometer is equipped with an external <-1>resonator type semiconductor light source. The method of determination is to determine the condition of the fault and the impossibility of the fault. Now, the generation method and the measurement condition are discussed, and the new external resonator type is introduced, and the measurement method is planned.