X線異常小角散乱装置の試作および巨大磁気抵抗効果の解明

X射线反常小角散射装置原型及巨磁阻效应阐明

• 批准号: 07555475
• 负责人: 早稲田 嘉夫
• 金额: --
• 依托单位: Tohoku University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research (B)
• 财政年份: 1995
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1995 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-07555475/
• 关键词: X線異常散乱; 小角散乱; 微細構造; 多層膜

本研究のキ-ポイントは、たとえ原子番号が近接する元素が共存する場合でも夫々の元素を的確に識別し、数十ナノメートルの微細構造を解明するX線異常小角散乱装置を世界に先駆け試作し、Co/Cu合金からなる巨大磁気抵抗効果の解明をすることにある。当初の研究計画に基づき、まず本研究補助金を持ちいて入射X線のエネルギーを自由に選択できるヨハン型あるいは2結晶モノクロメータを搭載する分光部、角度分解能の優れた小角ゴニオメータおよび位置敏感型検出器を装備した計測部を設計・製作し、既設の高輝度X線源と組み合わせたX線異常小角散乱装置を試作した。また本年度は、原子番号が近接するCoおよびCuから構成される多層膜の構造解析を実施した。X線異常小角散乱を応用した結果、CoおよびCu元素の原子番号が5番近く離れている場合に相当する小角散乱強度が測定できた。フーリエ変換法によって解析した結果、本実験で解析した多層膜は2.05nm周期であり、Cuが0.46nm,Coが0.50nm堆積し境界界面構1.09nmであることが判明した。この解析結果は、X線異常小角散乱法を用いて初めて得られた結果であり、今後はこの新しい手法を用いた各種機能性素材の系統的かつ精密な微細構造の解明が十分期待できる。

In this study, we try to identify the elements in close proximity to each other, and explain the X-ray anomalous small angle scattering device in the world. We try to solve the problem of large magnetic resistance effect of Co/Cu alloy. The original research project was carried out on the basis of a grant from this research project. The incident X-ray source was selected freely. The type of X-ray source was selected freely. The type of X-ray source was selected freely. The type of X-ray source was selected freely. This year, the structural analysis of multilayer films composed of Co and Cu atoms was carried out. X-ray abnormal small angle scattering results, Co and Cu elements atomic number is 5 times closer to each other, the corresponding small angle scattering intensity is measured. The analysis results of the multi-layer film are 2.05nm period, Cu = 0.46nm, Co = 0.50nm stacking boundary interface structure is 1.09nm. The result of this analysis is that the X-ray abnormal small angle scattering method has been used for the first time, and the new method has been used for the systematic analysis of various functional materials.

项目成果

K. Kato et al.: "New Method for Analyzing the periodic Structure of Multilayer by the Differential Anomalous Small-Angle X-ray Scattering" Mater. Trans. JIM. 36. 408-412 (1995)

K. Kato 等人：“通过微分反常小角 X 射线散射分析多层周期性结构的新方法”。

M. Saito et al.: "Anomalous Grazing X-ray Reflectometry for Determining the Number Density of Atoms in the Near-Surface Region" Mater. Trans. JIM. 37. 39-44 (1996)

M. Saito 等人：“用于确定近地表区域原子数密度的异常掠射 X 射线反射法”Mater。