超伝導または強磁性を示す新規C_<60>錯体の探索

寻找具有超导性或铁磁性的新 C_<60> 配合物

• 批准号: 07740544
• 负责人: 大塚 晃弘
• 金额: $ 0.64万
• 依托单位: Kyoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1995
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1995 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-07740544/
• 关键词: フラーレン; 超伝導; アルカリドープ; 単結晶; 電荷移動錯体; イオン性; 結晶構造

新規なC_<60>系超伝導体であるアルカリドープOMTTF・C_<60>・PhHに関して得られた知見を中心に述べる。1 作製と物性測定:グローブボックスとガラス製高真空ラインを用いて、K、RbをC_<60>と共に石英管に挿入・封入する作業を厳密かつ効率的に行なった。超伝導発現の確認はLFMA、SQUIDなど磁気測定で行ない、シールディングdc磁化の値から10%程度の体積分率を示すバルクの超伝導体であることがわかった(T_cはKで17-18.8K、Rbで23-26K)。ガラス製真空セルとコンピュータ制御式抵抗測定機器を用いて、ド-ピング過程中における抵抗変化を調べる試みは、結晶へ端子装着が困難なため現在までのところ成功しておらず、作業方法を工夫するなどして、ここに述べないその他のドナーによる新規イオン性錯体作製と共に、引き続き検討する計画である。2 組成:K_x・OMTTF・C_<60>・PhHに関して、LFMA及びSQUID測定にて超伝導を確認した試料について、EPMA/SEMによる組成分析・表面観察を行なった。中性錯体に対するKの含量xがx≦1.8であったことから、K_3C_<60>の生成による超伝導ではないことが支持された。また、個々の結晶表面の荒れ具合にバラツキが見られたことから、Kの含量は結晶ごとに、また、個々の結晶内においても場所ごとに、分布を持つことが示された。3 結晶構造:K_x・OMTTF・C_<60>・PhHおよびRb_x・OMTTF・C_<60>・PhHに関して、単結晶四軸X線回折による構造解析を行なった。Rbドープの試料については酸素・水分を除去したグローブボックス内でX線用キャピラリーに封入し、結晶劣化を抑えて測定した。K、Rbどちらの場合も基本的な構成成分分子の充填様式はドープ前の結晶から変化は認められなかったが、Kドープでは単位格子体積の膨張および次元性の低下が見られた。体積の増分からKの平均含量を見積もるとx=0.6程度であった。

New regulation C_<60>system superconductors: OMTTF C<60>_PhH 1. Determination of physical properties: high vacuum, high pressure, high pressure<60>, Superconductor generation was confirmed by LFMA, SQUID, magnetic measurement, dc magnetization value of 10% and volume fraction, T_c K = 17-18.8K, Rb = 23- 26K. The resistance of the vacuum system is adjusted during the process of testing, and the crystallization terminal is installed. Now, the test is successful. The operation method is time consuming. 2. Composition:K_x·OMTTF·C_<60>·PhH, LFMA and SQUID determination, ultra-conductivity confirmation, EPMA/SEM composition analysis, surface observation. K content x ≤ 1.8 in neutral dislocation, K_3 C_2 generation in superconductivity, and K_3 C<60>_2 generation in superconductivity. The content of K in the crystal is determined by the distribution of K in the crystal. 3 Crystal structure:K_x·OMTTF·C<60>_·PhH Rb_x·OMTTF·C_<60>·PhH The sample was tested for acid and moisture removal by X-ray for encapsulation and crystallization degradation. K, Rb, K, K, The average content of K in the volume increases with x=0.6.