X-ray fluorescence spectroscopy on transition metal oxide layers

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Das Teilprojekt befaßt sich mit der Charakterisierung von dünnen oxidischen Filmen der 3d-Übergangsmetalle mit Hilfe der Röntgenemissionsspektroskopie (XES) in Fluoreszenzanregung.Ziel der Untersuchungen sind Beiträge zur Aufklärung (1) der lokalen und symmetriespezifischen elektronischen Struktur von epitaktisch gewachsenen, ultradünnen Oxidschichten im Bereich von Monolagen bis Vielfachlagen, (2) der Veränderungen der elektronischen Struktur der Oxidschichten und insbesondere ihres Grenzflächenbeitrages bei Metallabscheidung und Einbetten bzw. Vergraben der Oxidschichten sowie (3) der elektronischen Eigenschaften der Oxidschichten wie Ladungstransferverhalten und d-d-Anregungen, Kristallfeld- und Bandlückenparameter sowie Quantisierungseffekte. Ein Ausbau im Hinblick auf (4) Dichroismuseffekte in den Emissionsspektren und ihre Verknüpfung mit magnetischen Eigenschaften wird in Aussicht genommen.