ヘッド媒体インタフェースにおけるナノメートルすきまの三次元画像計測に関する研究
ヘッド媒体インタフェースにおけるナノメートルすきまの三次元画像計測に関する研究
头介质界面纳米间隙三维图像测量研究
批准号：
10450159
负责人：
YASUNAGA Mitsuya
金额：
$4.61万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
1998
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1998 至 1999
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英文摘要
A novel method for measuring head-to-disk spacing was established using the fringe patterns formed over slider and disk surfaces simultaneously based on the Michelson Laser interferometry. Experimental procedure to form clear fringe patterns by adjusting the optical system, two kinds of fringe fixing techniques to cancel background noise, ridge line extraction with high reproducibility by suppressing image noise, correction of the phase shift based on multibeam reflection on a stratified surface were successfully introduced. The present method was experimentally confirmed to be useful as an in-situ measurement using an actual head and desk and an absolute spacing measurement with no necessity of calibration using a glass disk which replaces the actual disk.
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Y.Mitsuya,H.Oka,T.Ohshima: "A Novel Head-Disk Spacing Measurement Without Necessity of Calibration By Using Michelson Laser Interferometry Through Glass Disk"2001 ASME/STLE Int.Trib.Conf.. (発表予定).
Y.Mitsuya、H.Oka、T.Ohshima：“通过玻璃盘使用迈克尔逊激光干涉测量无需校准的新型头盘间距测量”2001 ASME/STLE Int.Trib.Conf.（待提交）。
Y.Mitsuya、H.Oka、T.Ohshima：“通过玻璃盘使用迈克尔逊激光干涉测量无需校准的新型头盘间距测量”2001 ASME/STLE Int.Trib.Conf.（待提交）。
DOI：
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发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
Y.Mitsuya, K.Nakayama, S.Okugawa, E.Nakai: "Head-to-Disk Spacing Measurements in Contact Regime Using Michelson Laser Interferometry Enhanced by Active Sensing and Image Processing"Proc.of Symp.On Interface Technology Towards 100 Gbit/in2. Vol.9. 67-73 (1
Y.Mitsuya、K.Nakayama、S.Okukawa、E.Nakai：“利用主动传感和图像处理增强的迈克尔逊激光干涉测量法在接触状态下进行磁头到磁盘间距测量”Proc.of Symp.On 面向 100 Gbit 的接口技术
Y.Mitsuya、K.Nakayama、S.Okukawa、E.Nakai：“利用主动传感和图像处理增强的迈克尔逊激光干涉测量法在接触状态下进行磁头到磁盘间距测量”Proc.of Symp.On 面向 100 Gbit 的接口技术
DOI：
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发表时间：
期刊：
影响因子：
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作者：
[]
通讯作者：
三矢 保永,大島 康司: "SPM用マイクロプローブを用いた磁気ディスク表面凝着力の速度依存性の計測"日本機械学会論文集 C編. 66巻642号. 494-502 (2000)
Yasunaga Mitsuya、Koji Oshima：“使用 SPM 微探针测量磁盘表面粘附力的速度依赖性”，日本机械工程学会会刊，C 版，第 66 卷，第 642 期。494-502 (2000)。
Yasunaga Mitsuya、Koji Oshima：“使用 SPM 微探针测量磁盘表面粘附力的速度依赖性”，日本机械工程学会会刊，C 版，第 66 卷，第 642 期。494-502 (2000)。
DOI：
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发表时间：
期刊：
影响因子：
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作者：
[]
通讯作者：
Y.Mitsuya, Y.Ohshima: "Measurement of Velocity-Dependent Adhesion Force Exerting on Magnetic Disk Using Micro Probe for SPM"Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. Vol.66 NO.642. 494-502 (2000)
Y.Mitsuya、Y.Ohshima：“使用 SPM 微型探针测量磁盘上施加的速度相关粘附力”日本机械工程师学会会刊。
Y.Mitsuya、Y.Ohshima：“使用 SPM 微型探针测量磁盘上施加的速度相关粘附力”日本机械工程师学会会刊。
DOI：
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发表时间：
期刊：
影响因子：
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作者：
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通讯作者：
Y.Mitsuya,K.Chihara,M.Yoshioka: "Novel Measurements of Flying Height and Attitudes Using Michelson Laser Interferometry"IEEE Transactions on Magnetics. Vol.35NO.5. 2338-2340 (1999)
Y.Mitsuya、K.Chihara、M.Yoshioka：“使用迈克尔逊激光干涉测量法测量飞行高度和姿态”IEEE 磁学汇刊。
Y.Mitsuya、K.Chihara、M.Yoshioka：“使用迈克尔逊激光干涉测量法测量飞行高度和姿态”IEEE 磁学汇刊。
DOI：
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发表时间：
期刊：
影响因子：
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作者：
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通讯作者：
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