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新たに提唱したX線計測新原理の実証とそれに基づく新着想電子温度計測法の確立

演示新提出的X射线测量新原理并建立基于该原理的新型电子测温方法

基本信息

批准号：
10878069
负责人：
長照二
金额：
$ 1.15万
依托单位：
University of Tsukuba
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Exploratory Research
财政年份：
1998
资助国家：
日本
起止时间：
1998 至 1999
项目状态：
已结题

项目摘要

本年度は、以下の具体的新手法により、プラズマの電子温度T_eの計測を実施した。(1)先ず、計測器の空乏層厚d∝V^<1/2>(Vは外部印加電圧)をVの時間掃引により時間変化させ、空乏層での吸収X線を変化させた。この時、(2)空乏層が厚い程空乏層を通り抜け空乏層の背後の無電場領域まで到達できるX線のエネルギーは高くなる。(3)一方、無電場領域内の深さ方向のX線生成電荷分布形状は、無電場領域でのX線減衰分布形状(X線エネルギーに依存)で決まる。(4)これら、X線エネルギーに依り生成分布が異なる電荷が、無電場領域で三次元拡散し、X線入射の無い隣接チャンネルに拡散し、入射エネルギーに特有の拡散電荷分布を形作る。(5)この拡散分布形状を定式化できる、新感度理論を用いて計算・解析して、入射X線エネルギー或いは電子温度を決定した。(プラズマ密度nはこの分布形状に影響なく、相対値のみに効く。)(6)またVの掃引によりdを変化させ、透過X線を変化させて、その依存性からT_e計測ができる新発想の吸収法を実証した。以上の様に、T_e,n,z_<eff>に複雑に依存する、空乏層を用いた従来のX線計測の原理的困難を解決する、我々の独創に基づく電子温度計測の新原理・新方式の着想を実証した。今後は、更にこの新手法を一般にいかに安価で、簡便な方法に拠って普及させ、多くの研究者に簡単に役立ててもらえるかを考える、「実用段階」を検討してゆく計画である。

This year, the following specific new methods are used for measuring electronic temperature T_e. (1) First, the thickness of the depleted layer of the measuring instrument d∝V^<1/2> (V is externally applied with a voltage), the time of V is scanned, and the time of the depleted layer is changed by absorbing X-rays.この时, (2) The depletion layer is thick and the depletion layer is thick. The depletion layer is behind the depletion layer and there is no electric field field. (3) On the one hand, the X-ray generation charge distribution shape in the deep direction in the non-electric field area and the X-ray attenuation distribution shape in the non-electric field area are determined. (4) これら, X-ray エネルギーにdepends on the generated distribution, がdifferent なるcharge が, no electric field field でthree-dimensional scattering し, X-ray incident non-near adjacent チャンネルに拡 scatter し, incident エネルギーに unique の拡 scattered charge distribution shape る. (5) The shape of the scatter distribution is formalized, the new sensitivity theory is calculated and analyzed, and the incident X-ray or electron temperature is determined. (The distribution shape of the density nはこの affects the effect of the なく, the phase relationship.) (6) The またVのsweeping によりdを変化させ, を変化させて through The above parameters, T_e,n,z_<eff>, depend on each other, and the depletion layer is measured using X-rays. The difficulty of the principle has been solved, and I have come up with a new principle and new method of electronic thermometer measurement based on my own original ideas and proved it. From now on, we will update the new method, the general method, the simple method, the popular method, and the multi-purpose method. The researcher's work is based on the research and development of the project.