超電導コイルのクエンチ検出に関する研究

超导线圈失超检测研究

• 批准号: 00J02053
• 负责人: 七戸 希
• 金额: $ 1.92万
• 依托单位: Okayama University (2002)Nagoya Institute of Technology (2000-2001)
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for JSPS Fellows
• 财政年份: 2000
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2000 至 2002
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-00J02053/
• 关键词: クエンチ検出; 超電導コイル

本年度は,「コイルを用いたクエンチ発生点の同定」と題した計画に基づき,同定法確立を目指して研究を行ってきた。現在までに発生点同定法として,コイルに多数の電圧端子を設ける方法が提案されているが,多数の電圧端子はシステムの複雑化や短絡故障を引き起こす要因となりうるため,少数端子,理想的には非接触で(端子を用いずに)クエンチ発生点を同定することが必要とされる。そこで,同定法確立のための基礎技術開発として,非接触クエンチ検出法の開発をまず行った。ここで非接触とは,電圧端子のうち誘導性信号除去のために用いられる中間電圧端子(以下中間端子)を用いないという意味である。通常電気的にクエンチを検出する場合には中間端子が用いられ,私が昨年度までに提案してきた「部分有効電力検出法」でもそうである。従って,部分有効電力検出法を,中間端子を用いずに且つ昨年度までに確立された高い検出精度を持った非接触クエンチ検出法として改良することを試みた。その結果,誘導性電圧検出コイル(ロゴウスキーコイル)を部分有効電力検出法に導入することで非接触かつ高精度のクエンチ検出法を開発することができた。この中間端子を用いずに非接触でクエンチを検出する方法は特に高電圧が印加される大型交流超電導コイルに対して有用な技術である。なぜなら,高電圧が印加されるコイルに中間端子を設けると,その接続部およびリード線で短絡故障が生じる危険性があり,本提案法ではこれを回避できるためである。本手法は現在特許出願中であり,現在は出願まで公表を見合わせてきた上記手法の詳細を述べた3編の論文(和文1編(雑誌名:低温工学),英文2編(雑誌名:Cryogenics, Elsevier journal Physica C)を投稿中および投稿準備中である。

This year, the topic of "the development point of the city" and "the establishment of the same method" were studied. Now, the method for setting the generation point is proposed, and the method for setting the generation point is proposed. The method for setting the generation point is proposed. The basic technology development of the same determination method is established, and the development of the non-contact detection method is carried out. Non-contact, inductive signal removal from voltage terminals intermediate voltage terminals (hereinafter intermediate terminals) In the case of normal electric power supply, the intermediate terminal is used, and the proposal of "partial electric power supply method" is made in the past year. Some of them have power detection methods, and the middle terminal is used to establish the high detection accuracy. As a result, inductive voltage detection method is partially effective. Non-contact detection method is effective. The intermediate terminals are used in non-contact mode, and the method for detecting high voltage AC superconductors is very useful. The proposed method avoids short-circuit faults caused by high-voltage high voltage high voltage intermediate terminals and short-circuit faults caused by high voltage high voltage intermediate terminals. This method is now licensed to the public table, and the details of the method are described in 3 parts of the paper (1 part of the article (title: Cryogenics, Elsevier journal Physics C), 2 parts of the English paper (title:Cryogenics, Elsevier journal Physics C).