フラッシュメモリの検査

闪存检查

• 批准号: 02F00112
• 负责人: 三浦 幸也
• 金额: $ 0.26万
• 依托单位: Tokyo Metropolitan University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for JSPS Fellows
• 财政年份: 2002
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2002 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-02F00112/
• 关键词: フラッシュメモリ; テスト; 故障モデル; ブリッジ故障

バッテリー駆動の携帯用電子機器の普及により,記憶素子としてフラッシュメモリが多用されている.しかし,そのテスト方法はいまだに確立されていない.従来のフラッシュメモリのテストでは,妨害故障(disturbance faults)と呼ばれる故障だけを対象にテストパターンの提案がなされていた.本研究では,NORタイプのフラッシュメモリのセル内にブリッジ故障と呼ばれる物理的欠陥を挿入し,その故障によって引起される故障動作をシミュレーション上で確認し,故障検出のパターン生成のアルゴリズムを提案した.以下にその概要を述べる.1.対象とする故障は,メモリセルを構成するトランジスタの端子間のブリッジ故障(セル内ブリッジ故障),及びセル内の信号線間のブリッジ故障(セル間ブリッジ故障)である.2.これらの故障をSpice上の回路で構成し,シミュレーションベースで故障動作を観測した.3.この観測結果から,ブリッジ故障は,縮退故障,論理故障,妨害故障を引起すことを確認した.これらは通常のメモリと同様の故障動作であることが判明した.4.以上の故障を検出するためのテストパターン生成アルゴリズムを提案した.提案したテストパターン生成アルゴリズムは,メモリセル数(ビット数)に線形に比例したテストパターン長であり,また他の従来のテストパターンより短いテスト長で,かつ同様かそれ以上の故障検出能力があることが判明した.本年度は,以上のように,物理故障(ブリッジ故障)を挿入したフラッシュメモリの故障動作を回路シミュレーションベースで調べ,これらの結果から抽象的な故障モデル(機能故障)を構築した.またこれらの故障を検出するテストパターンを提案した.

With the popularity of portable electronic machines, memory elements are used in multiple applications. The method used to determine the content of the article is to determine the content of the article. In the future, there will be a lot of problems, such as disturbance faults and call faults. This study confirms that the physical defects of NOR fault detection and call detection in the system are not fully integrated, and the fault detection and call generation in the system are proposed. The following is a summary of the following: 1. The fault is caused by the fault between the terminals. 2. This fault is caused by the failure of the loop on the Spice. 3. The fault action is detected. The result of this detection is confirmed. This is the first time that a fault has occurred. The proposal is based on the number of lines, the proportion of lines, the length of lines, the length of lines, the similarity of lines, and the ability to detect faults. This year, in response to the above, physical failures (failures) were introduced into the fault circuit, resulting in abstract failures (functional failures). We also propose a technical solution to detect these faults.