可変電源電圧テストを併用したLSI・電流テストに関する研究

利用可变电源电压测试的LSI/电流测试研究

基本信息

  • 批准号:
    08780302
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 0.51万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 财政年份:
    1996
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1996 至 无数据
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

本研究課題では比較的安価で故障検出率の高いLSIのテスト手法の開発を目的とした.本年度は電流テストのLSIへの適用,特に順序回路のテストについて検討した.これまでは組合せ回路への電流テストの適用は数多く報告されていたが,順序回路への適用はほとんど研究されていないことが本研究の背景にある.順序回路としてフリップフロップ単体を用いた.フリップフロップには種々の回路構造があり,構造の違いによる電流テストの故障検出能力を調べるためである.代表的な5種類のフリップフロップをテストの対象とした.初めにこれらのレイアウト設計を行い,レイアウト上から故障箇所を抽出した.またいくつかの故障モデルを想定し,故障を挿入したフリップフロップの動作と故障によって生じた電流を回路シミュレーションで解析した.その結果,電流テストは従来の機能テストよりは故障検出能力が高いが,一部の故障は検出できないことが判明した.また詳細に解析した結果,これらの検出不可能な故障は,フリップフロップ自身の構造に関係しており,本質的に電流テストで検出できない故障であることも判明した.さらに,電流テストと機能テストを併用することで一層故障検出率が高くなることを明らかにした。また,これらの結果に基づいて,電流テストで100%テスト可能なフリップフロップの回路構造を提案し,その回路規模や回路性能は従来のフリップフロップとほぼ同程度であることを明らかにした.
This research topic aims to compare the safety and fault detection rate of LSI. This year, the current status of LSI application, especially in the sequence of loop status of the investigation. The application of the current in the combination loop is reported in many ways, and the application of the sequential loop is studied in the background of this study. Sequential loop design The fault detection capability of the circuit is adjusted. The five types of representatives are: In the beginning, the design was carried out, and the fault was extracted. The fault is considered to be fixed, and the fault is analyzed by the action of the fault and the current loop. As a result, the current status of the fault detection ability is high, and part of the fault detection ability is high. Detailed analysis of the results, such as the detection of impossible fault, the structure of the relationship between itself, the nature of the current, such as the detection of fault, such as identification. The fault detection rate of the first layer is higher than that of the second layer. The result is that the current density is 100% higher than the current density. The circuit structure is proposed, and the circuit size and circuit performance are different.

项目成果

期刊论文数量(1)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Hiroshi Yamazaki and Yukiya Miura: "IDDQ testability of Flip-flops" Proceedings of IEEE International Workshop on IDDQ Testing. 29-33 (1996)
Hiroshi Yamazaki 和 Yukiya Miura:“触发器的 IDDQ 可测试性”IEEE 国际 IDDQ 测试研讨会论文集。
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三浦 幸也其他文献

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