Doppelbrechung in anisotrop nanostrukturiertem Silicium
各向异性纳米结构硅中的双折射
基本信息
- 批准号:5324624
- 负责人:
- 金额:--
- 依托单位:
- 依托单位国家:德国
- 项目类别:Research Grants
- 财政年份:2001
- 资助国家:德国
- 起止时间:2000-12-31 至 2003-12-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
Ziel des Vorhabens ist die Erforschung des von uns entdeckten Phänomens der Doppelbrechung in anisotrop nanostrukturierten Siliciumschichten (poröses Silicium) und mit dessen Hilfe die Untersuchung von Adsorptionsvorgängen auf Oberflächen und Kondensationsvorgängen in den Poren nanostrukturierter Materie. Im Vorhaben sollen Möglichkeiten erprobt werden, eine polarisationabhängige Anisotropie der dielektrischen Eigenschaften in den porösen Siliciumschichten zu erzielen welche die Doppelbrechung bewirkt. Das Vorhaben kann zur Anwendung von Siliciumkomponenten in optoelektronischen Kommunikationssystemen führen, z. B. in der Form von Phasenplättchen, die den Polarisationszustand elektromagnetischer Strahlung beeinflussen. Auf der Grundlage der bereits gewonnenen Erkenntisse der Modifikation der dielektrischen Anisotropie poröser Siliciumschichten durch Füllung der Poren mit verschiedenen dielektrischen Substanzen eröffnet sich die Möglichkeit, hochempfindliche Sensoren für Gase und Flüssigkeiten zu entwickeln, die poröse Siliciumschichten als Detektionselemente beinhalten.
Ziel des Vorhabens ist die Erforschung des von uns entdeckten Phänomens der Doppelbrechung in anisotropy nanostrukturierten Siliciumschichten (poröses Silicium) und mit dessen Hilfe die Untersuchung von Adsorbedsvorgängen auf Oberflächen und Kondensationsvorgängen in den Poren 纳米结构材料。在使用过程中,可能会遇到一些问题,即在硅的特性中存在极化各向异性的现象。 Das Vorhaben kann zur Anwendung von Siliconomponenten in optoelektronischen Kommunikationssystemen führen, z. B. 在 Phasenplättchen 形式中,在电磁流中极化。硅各向异性多孔材料的基础研究和修改是硅材料各向异性多孔材料的基本原理,它是一种与硅材料有关的材料,可用于气体和气体传感器的研究 Flüssigkeiten zu entwickeln,die poröse Siliciumschichten als Detektionselemente beinhalten。
项目成果
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