权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

試料結晶直接偏光方式によるX線磁気構造解析法の開発

开发样品晶体直接极化法X射线磁结构分析方法

基本信息

批准号：
15760016
负责人：
大隅寛幸
金额：
$ 1.98万
依托单位：
Japan Synchrotron Radiation Research Institute
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2003
资助国家：
日本
起止时间：
2003 至 2004
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-15760016/
关键词：
非共鳴X線磁気散乱偏光解析高輝度放射光磁気構造解析

项目摘要

本研究は、従来法では困難な微量試料の磁気構造解析を実用レベルに押し上げることを目指し、非共鳴X線磁気散乱の新規測定法を開発することを目的として実施された。研究代表者は、従来の偏光解析結晶による偏光解析のプロセスを試料結晶自身によって行うことにより、X線の回折過程を一段階省略し測定強度を100倍近く飛躍的に向上させる新規測定法を開発し、「構造因子テンソル要素決定法及びそのためのX線回折装置利用法」として特許権の申請を終えた。本年度は、微小結晶や薄膜の磁気構造解析を進展させるために、検出系のS/N比を向上させることを当初の課題に設定した。しかし、開発した新規測定法の測定対象は反強磁性体に限定され、応用上重要な強磁性体の磁気構造解析には適用できないという問題も存在していた。この問題の解決には、Γ点上に重なって現れる電荷散乱強度と磁気散乱強度を分離して測定する必要がある。その実施には、試料の磁化或いはX線の偏光を反転させ回折強度の変化を調べる反転比測定が有効である。本年度は、非共鳴X線磁気散乱の測定対象拡大に貢献するこの反転比測定の実用化研究において進展があった。本研究で使用しているBL46XU/SPring-8では反転比測定に必要な円偏光X線が利用できないことから、このビームラインでの反転比測定は極めて困難である。ところが、結晶が対称心を持たない磁性体の場合は、例外的に直線偏光X線を用いて反転比測定を行なうことが可能である。研究代表者は、不斉配位子により不斉誘起され不斉な結晶構造(P2_12_12_1)を持つ分子磁性体[Cr(CN)_6][Mn(S)-pnH(H_2O)](H_2O)を用いることで、直線偏光X線を用いた反転比測定に成功した。この成果は、開発した新規測定法が強磁性体にも適用できることを実証したものであり、非共鳴X線磁気散乱において反転比測定が重要であることを示している。

In this study, we developed a new method for the determination of non-resonance X-ray magnetic scattering, which is difficult to analyze the magnetic structure of trace samples. The research representative developed a new measurement method for the polarization analysis of the sample crystal itself, a step reduction in the X-ray reflection process, a 100-fold jump in the measurement intensity, and a method for determining the structural factor and using the X-ray reflection device. This year, the progress of magnetic structure analysis of micro crystal thin films has been set. The measurement object of the new measurement method is limited to antiferromagnetic materials, but it is not applicable to magnetic structure analysis of ferromagnetic materials. To solve this problem, it is necessary to separate the charge scattering intensity and magnetic scattering intensity. The magnetization of the sample or the polarization of the X-ray, the polarization of the reflection intensity, the modulation of the reflection ratio, and the measurement of the reflection ratio are all available. This year, non-resonance X-ray magnetic scattering measurement has made great contributions to the practical research of reflection ratio measurement. In this study, we used the BL46XU/SPring-8 to make use of the polarized X-rays necessary for the reflectance measurement. However, the reflectance measurement in this study is extremely difficult. In the case of magnetic materials, such as crystals and crystals, linear polarized X-rays can be used to measure the reflection ratio. The researchers successfully determined the molecular magnetic substance [Cr(CN)_6][Mn(S)-pnH(H_2O)](H_2O) by means of linear polarized X-ray. The results of this study are based on a new method for the determination of ferromagnetic materials.