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液晶パネルにおけるパラメータの高精細・高速測定法の開発に関する研究

液晶面板参数高清高速测量方法开发研究

基本信息

批准号：
16760264
负责人：
河村希典
金额：
$ 2.05万
依托单位：
Akita University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2004
资助国家：
日本
起止时间：
2004 至 2005
项目状态：
已结题

项目摘要

平成17年度において,ストークスパラメータ法を拡張することで,これまで測定が困難であった垂直配向液晶セルにおけるセルパラメータの2次元分布測定に適用することを目的として,本研究で構成したセルパラメータ測定法により実験を行った。以下に本研究で得られた結果について述べる。(1)配向状態の異なる垂直配向液晶セルを作製し,546,589,633,852nmの波長においてそれぞれ入射角を±10°,±15°,±20°とした場合のセル厚,プレティルト角をそれぞれ算出した。セル厚を求める場合については標準的な測定法であるクリスタルローテーション法により求めたプレティルト角の値を用いて算出した。また,プレティルト角を求める場合には,光干渉法により求めた空セル時のセル厚を既値として算出した。本測定システムを用いて求めたセルパラメータとクリスタルローテーション法及び光干渉法により求めたセルパラメータを比較すると,それぞれほぼ一致する値が得られた。(2)異なる複数波長(λ=546,589,633nm)のストークスパラメータを用いてセル厚及びプレティルト角の測定を行った結果,ばらつきが小さくなる傾向が見られ,精度の高い測定を行うことができた。(3)本研究における手法を適用した測定により求めたストークスパラメータと計算により求めた値とのフィッティングから,セル厚及びプレティルト角の同時測定を行った。異なる複数の波長のストークスパラメータを用いて測定を行った結果,セル厚及びプレティルト角をそれぞれ測定した結果と比較するとばらつきがみられたが,クリスタルローテーション法により求めたプレティルト角及び光干渉法により求めたセル厚の値とほぼ同様の結果が得られた。以上の結果から,ストークスパラメータ法を用いて垂直配向液晶セルの2次元分布のセルパラメータ測定を行うことができた。また,MVA液晶セルにおける突起物等によるセル厚及びプレティルト角の影響を考慮することで,これらの液晶セルにおけるセルパラメータ測定も行うことができた。

In 2017, the measurement of the two-dimensional distribution of vertically aligned liquid crystals was difficult. This study was conducted to determine the measurement of the two-dimensional distribution of vertically aligned liquid crystals. The results of this study are described below. (1)The alignment state of vertically aligned liquid crystals is different. The wavelength of 546,589,633,852nm is ±10°,±15°,±20°. The incident angle is calculated when the alignment state is different. In the case of the thickness, the standard method is used to calculate the value of the angle. In the case of light and humidity, the light and humidity method is used to calculate the light and humidity. The method of determining the content of the sample is to compare the content of the sample with the content of the sample. (2)The measurement results of different complex wavelengths (λ=546,589,633nm) show that the measurement results tend to be small and accurate. (3)The method of this study is applicable to the determination of the thickness and the angle of rotation. The results of the measurement of the wavelength range and the angle range are compared with those of the measurement of the wavelength range and the angle range. The above results show that the two-dimensional distribution of vertically aligned liquid crystals can be measured by the method of vertical alignment. The thickness and angle of MVA liquid crystal protrusions should be considered.

项目成果

期刊论文数量（7）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

A Simple Measurement System for Determining Cell Thickness and Twist Angle in Reflective Liquid Crystal Displays

用于确定反射液晶显示器中的单元厚度和扭转角度的简单测量系统

DOI：
发表时间：
2004
期刊：
Proceedings of The 11th International Display Workshops (Niigata, Japan) LCTp4-10
影响因子：
0
作者：
Marenori Kawamura;Masaki Konda;Susumu Sato
通讯作者：
Susumu Sato

A High-Speed Cell Parameter Measurement of Reflective Liquid Crystal Panels by Using a Polarization Converting Device

利用偏振转换装置对反射式液晶面板进行高速单元参数测量

DOI：
发表时间：
2004
期刊：
Proceedings of The 11th International Display Workshops (Niigata, Japan) LCT3-4
影响因子：
0
作者：
Marenori Kawamura;Susumu Sato
通讯作者：
Susumu Sato

垂直配向液晶セルにおけるセル厚及びプレティルト角の同時測定

同时测量垂直排列液晶盒中的盒厚和预倾角