イオンマイクロサージャーリー用リアルタイム3次元線量計測法に関する研究

离子显微外科实时三维剂量测定研究

• 批准号: 17700432
• 负责人: 及川 将一
• 金额: $ 2.24万
• 依托单位: Japan Atomic Energy Agency
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2005
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2005 至 2007
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-17700432/
• 关键词: 加速器; 放射線、X線、粒子線

本年度は、多段発光検出システムの検出系および計測回路系においてノイズ対策等の調整を進め、多段同時計測による3次元発光強度分布測定の実現を目指して技術開発を行った。1.S/N比を向上させるため、3MVシングルエンド加速器から発生したH^+ビームを用い、検出系の遮光や、計測回路系のノイズ除去等の調整を実施した。2.1で実施した調整の後、ビームサイズ1μm程度のH^+マイクロビームをアクリル製飛程調節器上に走査(50-100μm^2)しながら照射し、構築した多段発光検出システムにより透過したイオンの発光信号の計測を行った。この時、ビーム軸と検出器軸のミスアライメント等により最終段(3段目)で有効な発光信号を検出することが出来ず、透過イオンのエネルギーロスに対応した発光信号は2段同時計測するだけに留まった。今後、軸・角度調整機構の付加など検出器固定チェンバーの設計を見直し、改良を施す必要がある。3.2において3段目を除く2段目までの検出器で取得された発光信号を、検出イベント毎にビームの走査位置情報と共にPCに取り込み、複数段の2次元発光強度分布を同時計測することに成功した。このことから、積層シンチレータを用いた本計測手法による3次元測定の可能性が示唆された。しかし、イベント数が多い状況において信号処理速度の問題によりパイルアップや数え落としが起こっており、現状で検出効率が低いことからフィルム線量計等による照射線量との相関を調べるまでに至っていない。今後、高計数率に対応するために計測回路系のマッチングを精査し、検出効率の向上へ向けた技術開発が必要である。

は this year, more paragraphs 発 light 検 シ ス テ ム の 検 out department お よ び measuring circuit is に お い て ノ イ ズ ce seaborne の を into め, period of adjustment and measuring に よ る 3 dimensional 発 light intensity distribution measurement の be presently を refers し て technology open 発 を line っ た. 1. S/N ratio を upward さ せ る た め, 3 mv シ ン グ ル エ ン ド accelerator か ら 発 raw し た H ^ + ビ ー ム を い, 検 out の shading や, measuring circuit の ノ イ ズ remove の を adjustment be applied し た. 2.1 で be applied し た, after adjusting の ビ ー ム サ イ ズ の H ^ 1 mu m degree + マ イ ク ロ ビ ー ム を ア ク リ ル system fly on routine regulator に walkthroughs (50-100 mu m ^ 2) し な が し ら exposure, constructing し た multistage 発 検 out light シ ス テ ム に よ り through し た イ オ ン の 発 optical signal の measuring line を っ た. こ の, ビ ー ム shaft と 検 extractor shaft の ミ ス ア ラ イ メ ン ト etc に よ り eventually period (3 eyes) で have sharper な 発 optical signal を 検 out す る こ と が ず, through イ オ ン の エ ネ ル ギ ー ロ ス に 応 seaborne し た 発 は 2 section at the same time measuring light signal す る だ け に leave ま っ た. In the future, the design of the axial Angle adjustment mechanism will be further improved by adding な and 検, and the output will be fixed by チェ and バ. The design of を will be direct, and the improvement of を will be carried out by す. Youdaoplaceholder7 is necessary. 3.2 に お い て 3 mesh mesh を except く 2 paragraphs ま で の 検 extractor で obtain さ れ た 発 optical signal を, 検 イ ベ ン ト their に ビ ー ム の walkthrough location intelligence と に PC に take total り 込 み, plural の 2 dimensional 発 を light intensity distribution at the same time measuring す る こ と に successful し た. こ の こ と か ら, horizon シ ン チ レ ー タ を with い た this measuring technique に よ る possibility 3 dimensional measuring の が in stopping さ れ た. し か し, イ ベ ン ト が much い condition に お い て signal 処 Richard speed の problem に よ り パ イ ル ア ッ プ や fall several え と し が up こ っ て お り, status で 検 out of the low rate of unseen が い こ と か ら フ ィ ル ム line meter に よ る irradiation dose と の phase masato を adjustable べ る ま で に to っ て い な い. In the future, high count rate に 応 seaborne す る た め に measuring circuit is の マ ッ チ ン グ を check し, 検 out working rate の へ upward to け た technology open 発 が necessary で あ る.

项目成果

原研高崎における100MeV級重イオンマイクロビーム装置の開発とその現状2

JAERI高崎100MeV级重离子微束装置的开发及其现状2

• 发表时间: 2005
• 期刊: 第18回タンデム加速器およびその周辺技術の研究会報告集
• 作者: Masakazu Oikawa;et. al.;Masakazu Oikawa;及川 将一
• 通讯作者: 及川 将一

Characteristics of focusing high-energy heavy ion microbeam system at the JAEA AVF cyclotron

• DOI: 10.1016/j.apradiso.2008.06.025
• 发表时间: 2009-03-01
• 期刊: APPLIED RADIATION AND ISOTOPES
• 影响因子: 1.6
• 作者: Oikawa, Masakazu;Satoh, Takahiro;Yokota, Watalu
• 通讯作者: Yokota, Watalu

Chazacteristics of focusing high-energy heavy ion microbeam system at the JAEA AVF cyclotron

JAEA AVF回旋加速器聚焦高能重离子微束系统的特性

• 发表时间: 2008
• 期刊: Applied Radiation and Isotopes (投稿中)
• 作者: Masakazu Oikawa;et. al.
• 通讯作者: et. al.

Focusing high-energy heavy ion microbeam system at the JAEA AVF cyclotron

• DOI: 10.1016/j.nimb.2007.01.280
• 发表时间: 2007-07-01
• 期刊: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS
• 影响因子: 1.3
• 作者: Oikawa, Masakazu;Satoh, Takahiro;Kamiya, Tomihiro
• 通讯作者: Kamiya, Tomihiro