The electronic structure of endohedral fullerenes

内嵌富勒烯的电子结构

• 批准号: 18350068
• 负责人: HINO Shojun
• 金额: $ 11.83万
• 依托单位: Ehime University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2006 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18350068/
• 关键词: 電気・磁気的性質; 電子状態; 光電子分光; フラーレン; 有機導電体; FET; ナノネットワーク

Y2C2@C82, La2@C78など一連の多原子内包フラーレンの紫外光電子スペクトル(UPS)を測定した。その結果、3つの構造異性体があるY2C2@C82では、内包されているY2C2クラスターの酸化状態は同じであっても、π電子状態は大きく異なっていることが判明した。また、これら構造異性体の中で一番対称性の高いC2v対称のY2C2@C82(III)の内包原子団は理論計算とUPSの比較から4面体構造をなしていることが明らかとなった。また、C82ケージに内包されているM2C2(M=Er, Lu, Ti, etc)でも、Y2C2@C82と同じケージの対称性を持つ場合にはほぼ同様の電子状態をもっていることが明らかとなった。一方、C78ケージに関して、La2やTi2C2といった原子団はいずれも同じD3h対称のC78ケージに内包されるが、これらの内包フラーレンが与えるスペクトルは大きく異なっており、La2@C78とTi2C2@C78の電子状態には顕著な相違があることが判明した。この原因を理論計算から検討したところ、Ti原子とケージおよび内包されている炭素原子との間に軌道混成が起こり、C78ケージの電子状態に影響を与えていることが明らかとなった。

Y2C2@C82, La2@C78 uses a polyatomic internal package to measure the UV photoelectron emission spectrum (UPS). According to the results of the test, 3% of the results show that the physical properties of the system are the same as those of the Y2C2@C82 and π electronics. the results show that the acidification status of the system is the same as that of the system and the π electronics. the results show that the results show that the acidification of the system is the same as that of the system. The theory calculates the inclusion of atoms in Y2C2@C82 (III), which is called "UPS" and "tetrahedron". The M2C2 (M=Er, Lu, Ti, etc) device and the Y2C2@C82 device are the same as each other. They are the same as each other. One party, C78, La2Ti2C2, La2Ti2 The reason theory calculates that the carbon atoms are mixed with the carbon atoms in the Ti atoms, the carbon atoms are mixed with the carbon atoms, the electronic status of the C78 atoms is calculated, and the carbon atoms are mixed with each other.

项目成果

Lu_2@C_<82>(II)の紫外光電子スペクトル

Lu_2@C_<82>的紫外光电子能谱(II)

• 发表时间: 2007
• 作者: 宮崎隆文;日野照純;加藤真之;古川浩之介;隅井良平;梅本久;沖本治哉;菅井俊樹;篠原久典
• 通讯作者: 篠原久典

Lu内包フラーレンにおける電荷移動量の推定フラーレン

Lu内嵌富勒烯中电荷转移量的估计

• 发表时间: 2008
• 作者: 宮崎隆文;隅井良平;梅本久;沖本治哉;菅井俊樹;篠原久則;日野照純
• 通讯作者: 日野照純

情報機構

信息组织

• 发表时间: 2007
• 作者: M. Itoi;Y. Ono;N. Kojima;K. Kato;K. Osaka and M. Takata;秋本誠志;日野照純
• 通讯作者: 日野照純

有機エレクトロニクスの展開

有机电子学的发展

• 发表时间: 2007
• 作者: 日野 照純;他
• 通讯作者: 他

Ultraviolet Photoemission Study of Lithium Nickel 0xide : A Contact of Valence Band Structure and Selective Oxidation

锂镍0x化物的紫外光电子发射研究：价带结构与选择性氧化的联系

• 发表时间: 2008
• 期刊: Applied Catalysis A 338
• 作者: T. Miyazaki;D. Yoshimura;K. Okudaira
• 通讯作者: K. Okudaira