微細Si/SiO2系電子・音響フォノン相互作用エンジニアリングの創成
创建精细的 Si/SiO2 基电子/声声子相互作用工程
基本信息
- 批准号:18760251
- 负责人:
- 金额:$ 2.3万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- 财政年份:2006
- 资助国家:日本
- 起止时间:2006 至 2007
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
本年度は当初計画に従い、下記の成果を得た。(1)自立シリコン板での電子移動度コンパクトモデル作成自立シリコン板での形状因子がシリコン層厚、材料によらないUniversalな曲線に従うことを利用し、基底サブバンド内散乱のUniversal曲線を高精度にフィッティングする単純な解析式を発見した。これを用いて変調音響フォノン散乱律速移動度を解析式表現することにより、電子の大半が基底サブバンド内に存在するような比較的シリコン層厚の薄い領域での移動度を解析式によって高精度に表現することに成功した。この成果は学術論文として発表された。また、サブバンド間散乱の形状因子にもUniversalityがあることを明らかにした。(2)シリコンナノワイヤ構造での電子フォノン相互作用に関する初動研究自立シリコンナノワイヤ構造での音響フォノン変調を取り入れた電子フォノン相互作用の形状因子を計算し、自立シリコン板と同様にナノワイヤ径、材料によらないUniversalな形状因子曲線が得られることが明らかになった。また、変調音響フォノンを厳密に取り入れた電子フォノン相互作用計算プログラムを用いることにより、散乱レートが形状因子増加から予想されるのと同程度だけ減少することを明らかにした。このような自立板構造と類似した結果が得られることは、音響フォノン変調が電子フォノン相互作用に与える影響は、構造によらない一般的かつ簡潔な物理によって支配されていることを示唆している。
本年度は当初計画に従い、下記の成果を得た。(1)自主研发的柔性薄板坯体的弯曲度和弯曲度都很高,但由于柔性薄板坯体的形状因素,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很高,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很高,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很高,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很低,材料的弯曲度和弯曲度都很高,材料的弯曲度和弯曲度都很低。これを用いて変調音響フォノン散乱律速移動度を解析式表現することにより、電子の大半が基底サブバンド内に存在するような比較的シリコン層厚の薄い領域での移動度を解析式によって高精度に表現することに成功した。この成果は学術論文として発表された。但是,这并不意味着形状因素的复杂性。(2)自主研发的复合材料。また、変調音響フォノンを厳密に取り入れた電子フォノン相互作用計算プログラムを用いることにより、散乱レートが形状因子増加から予想されるのと同程度だけ減少することを明らかにした。このような自立板構造と類似した結果が得られることは、音響フォノン変調が電子フォノン相互作用に与える影響は、構造によらない一般的かつ簡潔な物理によって支配されていることを示唆している。
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
自立シリコン量子細線における電子閉じ込めフォノン相互作用に関する理論研究
自支撑硅量子线中电子限制声子相互作用的理论研究
- DOI:
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Shigeyasu Uno;宇野重康;服部淳一
- 通讯作者:服部淳一
Reduction of Acoustic Phonon Limited Electron Mobility due to Phonon Confinement in Silicon Nanowire MOSFETs
由于硅纳米线 MOSFET 中的声子限制,声学声子限制电子迁移率降低
- DOI:
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:J. Hattori;S. Uno;N. Mori and K. Nakazato
- 通讯作者:N. Mori and K. Nakazato
Acoustic Phonon Limited Electron Mobility in SOI, Double-Gate, and FinFET:Is Bulk Phonon Assumption Valid?
SOI、双栅和 FinFET 中的声学声子限制电子迁移率:体声子假设有效吗?
- DOI:
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Shigeyasu Uno;宇野重康;服部淳一;Junichi Hattori;Shigeyasu Uno
- 通讯作者:Shigeyasu Uno
Analytical Description of Intravalley Acoustic Phonon Limited Electron Mobility in an Ultra-thin Si Plate Incorporating Phonon Modulation due to Plate Interfaces
结合板界面声子调制的超薄硅板中谷内声学声子有限电子迁移率的分析描述
- DOI:
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Shigeyasu Uno
- 通讯作者:Shigeyasu Uno
音響フォノン変調によるSOI, Double-Gate, FinFETでの電子移動度劣化の理論解析
由于声学声子调制导致 SOI、双栅和 FinFET 中电子迁移率下降的理论分析
- DOI:
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:服部淳一;宇野重康;森伸也;中里和郎
- 通讯作者:中里和郎
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