自由電子レーザーを用いたクラスター・分子の電荷ダイナミクスの研究
利用自由电子激光研究团簇和分子的电荷动力学
基本信息
- 批准号:07J03574
- 负责人:
- 金额:$ 1.73万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
- 财政年份:2007
- 资助国家:日本
- 起止时间:2007 至 2009
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
自由電子レーザーは極めて高強度な光源であるため、希ガス・クラスターなどの微粒子は多数の光子を吸収し多価イオン化する。その後のクラスターはクーロン爆発とよばれる激しい解離をおこす。この解離はクラスター内の電荷分布に依存するため、電荷移動を理解することはnmサイズの物質の高強度レーザー光による損傷を理解するうえで重要である。そこで本研究ではNe-Ar混合希ガス・クラスターにX線自由電子レーザー試験加速器からの波長60nmのパルス光を照射し、その解離イオンの質量・運動エネルギーを運動量イメージング計測をした。この波長60nm(20eV)の光はAr原子をイオン化できるが、Ne原子のイオン化できないため、電荷移動がなければNeイオンは観測されないはずである。しかし、混合クラスターのAr原子の割合を増やすとNeイオン量が増加するのが観測され、Ar原子の電荷がNe原子に移動していることを示している結果が得られた。またNeイオンの運動エネルギーはArイオンよりはるかに大きく、混合クラスターがNe原子が外側におりAr原子が内側にいるコアーシェル構造になっていることを反映していると考えられる。
Free electron レ ー ザ ー は extremely め て high-strength な light で あ る た め, bush ガ ス · ク ラ ス タ ー な ど の は most の photon particles を suction 収 し more 価 イ オ ン change す る. The そ <s:1> followed by the <s:1> ラスタ ラスタ ラスタ ラスタ ロ ロ ロ explosion とよばれる excitation the <s:1> dissociation をお す す す す. こ の dissociation は ク ラ ス タ ー に の charge distribution in dependent す る た め, charge mobile を understand す る こ と は nm サ イ ズ の の material high strength レ ー ザ ー light に よ る damage を understand す る う え で important で あ る. そ こ で this study で は Ne - Ar mixed bush ガ ス · ク ラ ス タ ー に X-ray free electrons レ ー ザ ー test accelerator か ら の 60 nm wavelength の パ ル し ス を light irradiation, そ の dissociation イ オ ン の quality, sports エ ネ ル ギ ー を exercise イ メ ー ジ ン グ measuring を し た. こ の 60 nm wavelength light (20 ev) の は Ar atoms を イ オ ン change で き る が, Ne atomic の イ オ ン change で き な い た め, charge mobile が な け れ ば Ne イ オ ン は 観 measuring さ れ な い は ず で あ る. し か し, mixed ク ラ ス タ ー の Ar atoms の cut close を raised や す と Ne イ オ ン in が raised add す る の が 観 measuring さ れ, atomic charge が の Ar Ne atomic に mobile し て い る こ と を shown し て い る results ら が れ た. ま た Ne イ オ ン の movement エ ネ ル ギ ー は Ar イ オ ン よ り は る か に big き く, mixed ク ラ ス タ ー が Ne atomic が lateral に お が り Ar atoms inside に い る コ ア ー シ ェ ル tectonic に な っ て い る こ と を reflect し て い る と exam え ら れ る.
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Frustration of direct photoionizations of Ar clusters in intense extreme ultraviolet pulses from a free electron laser
自由电子激光器强烈极紫外脉冲中 Ar 簇直接光电离的受阻
- DOI:
- 发表时间:2009
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:K. Nagaya;M. Yao;H. Fukuzawa;X.-J. Liu;G. Prumper;M. Okunishi;K. Shimada;K. Ueda;T. Harada;M. Toyoda;M. Yanagihara;M. Yamamoto;K. Motomura;N. Saito;A. Rudenko;J. Ullrich;L. Foucar;A. Czasch;R. Dorner;M. Nagasono;A. Higashiya;M. Yabash
- 通讯作者:M. Yabash
Electron-ion-coincidence spectra of K-shell excited Ne, Ar, and Kr clusters.
K 壳层激发的 Ne、Ar 和 Kr 团簇的电子-离子符合光谱。
- DOI:
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:4.4
- 作者:H. Murakami;K. Nagaya;Y. Ohmasa;H. Iwayama;M. Yao
- 通讯作者:M. Yao
Fragmentation channels of K-shell excited rare-gas clusters studied by multiple-ion coincidence momentum
多离子重合动量研究K壳激发稀有气体团簇的碎裂通道
- DOI:
- 发表时间:2008
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:H.Murakami;H.Iwayama;K.Nagaya;and M.Yao
- 通讯作者:and M.Yao
Multiple ionization of atomic argon irradiated by EUV free-electron laser pulses at 62 nm : evidence of
62 nm EUV 自由电子激光脉冲照射原子氩的多重电离:证据
- DOI:
- 发表时间:2009
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:K.Motomura;et al
- 通讯作者:et al
極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験II. 希ガス・クラスター多重イオン化のサイズ依存性
使用极紫外 FEL II 进行原子/团簇多重电离实验。稀有气体/团簇多重电离的尺寸依赖性。
- DOI:
- 发表时间:2008
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:H.Murakami;K.Nagaya;Y;Ohmasa;H.Iwayama and M.Yao;H.Iwayama;岩山洋士
- 通讯作者:岩山洋士
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EUV-FEL 光とヘリウム原子の相互作用:実験と数値計算
EUV-FEL 光和氦原子的相互作用:实验和数值计算
- DOI:
- 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
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繁政英治
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- 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
J R Harries;岩山 洋士;繁政英治;久間 晋;大和田成起;井上伊知郎;富樫格;鈴木紀裕;東善郎, - 通讯作者:
東善郎,
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- 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
岩山 洋士;永谷清信;八尾誠;福澤宏宣;X. -J. Liu;G. Pruemper;奥西み さき;嶋田浩三;上田潔;原田哲男;豊田光紀;柳原美広;山本正樹;本村浩治;齋藤則生;A. Rudenko;J. Ullrich;L. Fouca;A. Czasch;R. Doerner;永園充;東谷篤志;矢橋牧名;石川哲也;大橋治彦;木村洋昭 - 通讯作者:
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- DOI:
- 发表时间:
2016 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
J R Harries;岩山 洋士;久間 晋,宮本祐樹、永園 充;中嶋 享;大饗千彰;富樫 格;繁政英治;笹尾 登 - 通讯作者:
笹尾 登
Applications of CIE2015 Cone-Fundamental Based Colorimetry
CIE2015 锥体基础比色法的应用
- DOI:
- 发表时间:
2017 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
J R Harries;岩山 洋士;藤瀬光香;久間 晋;大和田成起;井上伊知郎;富樫格;玉作賢治;繁政英治;Hirohisa Yaguchi - 通讯作者:
Hirohisa Yaguchi
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