Development of a three-dimensional transmission electron microscopy method based on electron diffraction and its application to nanostructural characterization in crystalline materials
Development of a three-dimensional transmission electron microscopy method based on electron diffraction and its application to nanostructural characterization in crystalline materials
基于电子衍射的三维透射电子显微镜方法的发展及其在晶体材料纳米结构表征中的应用
批准号：
18681019
负责人：
HATA Satoshi
金额：
$19.47万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
财政年份：
2006
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2006 至 2008
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英文摘要
透過電子顕微鏡を用いた3次元観察法として電子線トモグラフィーが注目されてきている。本研究では、結晶中での電子回折を積極的に利用するという、従来とは逆の発想に基づいた新しい電子線トモグラフィー技術を開発し、転位、合金ドメイン構造といった結晶材料の物性と深く関わる微細組織の3次元ナノスケール評価に成功した。
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結晶内部組織の電子線トモグラフィー観察
晶体内部结构的电子断层扫描观察
晶体内部结构的电子断层扫描观察
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
作者：
[光原昌寿, 池田賢一, 波多聰 他, S.Hata et al., K.Kimura et al., 波多聰, 波多聰]
通讯作者：
波多聰
TEM暗視野トモグラフィーによるNi_4Mo規則合金の3次元微細組織観察
Ni_4Mo有序合金TEM暗场断层扫描三维显微组织观察
Ni_4Mo有序合金TEM暗场断层扫描三维显微组织观察
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
作者：
[松山加苗, 木村耕輔, 松村晶, 波多聰]
通讯作者：
波多聰
TEMトモグラフィーによる金属材料評価
通过 TEM 断层扫描评估金属材料
通过 TEM 断层扫描评估金属材料
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
作者：
[波多聰, 松村晶, ほか]
通讯作者：
ほか
Si単結晶におけるクラック先端転位群の電子線トモグラフィ解析
单晶硅裂纹尖端位错的电子断层扫描分析
单晶硅裂纹尖端位错的电子断层扫描分析
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
作者：
[本田雅幹, 田中將己, 光原昌寿, 波多聰, 金子賢治, 東田賢二]
通讯作者：
東田賢二
Three-dimensional analyses of crack tip dislocations observed by electron tomography
电子断层扫描观察到的裂纹尖端位错的三维分析
电子断层扫描观察到的裂纹尖端位错的三维分析
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
作者：
[M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata 他2名]
通讯作者：
S. Hata 他2名
共 47 条
Development ofhigh-angle triple-axis specimen holders for spherical aberration-corrected electron microscopes
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批准号：22310068
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$11.32万
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财政年份：2010
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负责人：HATA Satoshi
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依托单位：
海外基金