Development of a three-dimensional transmission electron microscopy method based on electron diffraction and its application to nanostructural characterization in crystalline materials

基于电子衍射的三维透射电子显微镜方法的发展及其在晶体材料纳米结构表征中的应用

• 批准号: 18681019
• 负责人: HATA Satoshi
• 金额: $ 19.47万
• 依托单位: Kyushu University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2006 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18681019/
• 关键词: ナノ材料評価; 電子顕微鏡; 電子線トモグラフィー; 電子回折; 結晶; 3次元; ドメイン構造; 転位; 鉄鋼材料; 走査透過電子顕微鏡法(STEM); 3 次元; 相分離; 透過電子顕微鏡; 暗視野法; 規則化; 逆位相ドメイン; 試料ホルダー; 超高圧電子顕微鏡

透過電子顕微鏡を用いた3次元観察法として電子線トモグラフィーが注目されてきている。本研究では、結晶中での電子回折を積極的に利用するという、従来とは逆の発想に基づいた新しい電子線トモグラフィー技術を開発し、転位、合金ドメイン構造といった結晶材料の物性と深く関わる微細組織の3次元ナノスケール評価に成功した。

The three-dimensional observation method is used through electron micromirrors. In this study, the electron reflection in the crystal is actively utilized to develop new electron lines in the crystal structure, and the physical properties of the crystal material are deeply related to the three-dimensional microstructure.

项目成果

結晶内部組織の電子線トモグラフィー観察

晶体内部结构的电子断层扫描观察

• 发表时间: 2009
• 作者: 光原昌寿;池田賢一;波多聰 他;S.Hata et al.;K.Kimura et al.;波多聰;波多聰
• 通讯作者: 波多聰

TEM暗視野トモグラフィーによるNi_4Mo規則合金の3次元微細組織観察

Ni_4Mo有序合金TEM暗场断层扫描三维显微组织观察

• 发表时间: 2008
• 作者: 松山加苗;木村耕輔;松村晶;波多聰
• 通讯作者: 波多聰

TEMトモグラフィーによる金属材料評価

通过 TEM 断层扫描评估金属材料

• 发表时间: 2010
• 作者: 波多聰;松村晶;ほか
• 通讯作者: ほか

Si単結晶におけるクラック先端転位群の電子線トモグラフィ解析

单晶硅裂纹尖端位错的电子断层扫描分析

• 发表时间: 2008
• 作者: 本田雅幹;田中將己;光原昌寿;波多聰;金子賢治;東田賢二
• 通讯作者: 東田賢二

Three-dimensional analyses of crack tip dislocations observed by electron tomography

电子断层扫描观察到的裂纹尖端位错的三维分析

• 发表时间: 2008
• 作者: M. Tanaka;M. Honda;M. Mitsuhara;S. Hata 他2名
• 通讯作者: S. Hata 他2名