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High-sensitive Terahertz technology using semiconductor quantum nanostructures

High-sensitive Terahertz technology using semiconductor quantum nanostructures
使用半导体量子纳米结构的高灵敏度太赫兹技术
批准号:
19560361
负责人:
MAEMOTO Toshihiko
金额:
$2.58万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2007
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2007 至 2008

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
電子のバリスティック伝導によって生じる非線形な電気特性を利用した新しい原理の電子デバイスを開発するために,InAs/AlGaSb へテロ構造を用いてバリスティック整流デバイスを作製して幅広い温度範囲で電気・磁気特性の評価を行った.4.2K,77K で明瞭な整流特性が観測され,平均自由行程が500 nm程度の室温においても整流効果の観測に成功した.斜めに量子細線型構造を配置した微細化デバイスでは,磁場を印加した状態で整流特性を評価することで構造内のバリスティック電子の状態について新しい知見を得た.さらなる高性能化のために,量子細線をT 字型に接合した量子細線3 分岐構造(Three-terminal Ballistic Junction : TBJ)の試作と評価も行った.TBJ では基準電位が存在することから,回路応用の観点でバリスティック整流デバイスよりも有用である.InAs/AlGaSb 系TBJ においても,明瞭な整流特性が観測され,温度依存性や素子サイズ依存性からバリスティック伝導がより支配的な状態で強い整流特性が得られることが分った.またTBJ におけるパルス入力に対する応答特性を評価したところ,nAs/AlGaSb 系TBJ ではGaAs/AlGaAs 系TBJ と比較して約1 桁高い周波数での動作を確認し,高速動作の可能性を示した.
英文摘要
電子のバリスティック伝導によって生じる非線形な電気特性を利用した新しい原理の電子デバイスを開発するために,InAs/AlGaSb へテロ構造を用いてバリスティック整流デバイスを作製して幅広い温度範囲で電気・磁気特性の評価を行った.4.2K,77K で明瞭な整流特性が観測され,平均自由行程が500 nm程度の室温においても整流効果の観測に成功した.斜めに量子細線型構造を配置した微細化デバイスでは,磁場を印加した状態で整流特性を評価することで構造内のバリスティック電子の状態について新しい知見を得た.さらなる高性能化のために,量子細線をT 字型に接合した量子細線3 分岐構造(Three-terminal Ballistic Junction : TBJ)の試作と評価も行った.TBJ では基準電位が存在することから,回路応用の観点でバリスティック整流デバイスよりも有用である.InAs/AlGaSb 系TBJ においても,明瞭な整流特性が観測され,温度依存性や素子サイズ依存性からバリスティック伝導がより支配的な状態で強い整流特性が得られることが分った.またTBJ におけるパルス入力に対する応答特性を評価したところ,nAs/AlGaSb 系TBJ ではGaAs/AlGaAs 系TBJ と比較して約1 桁高い周波数での動作を確認し,高速動作の可能性を示した.
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1002/pssc.200881538
发表时间: 2009-06
期刊: Physica Status Solidi (c)
影响因子: --
作者: [M. Koyama;K. Fujiwara;N. Amano;T. Maemoto;S. Sasa;M. Inoue]
通讯作者: M. Koyama;K. Fujiwara;N. Amano;T. Maemoto;S. Sasa;M. Inoue
高誘電率材料を用いたInAs/AlGaSb HEMT の作製と評価
采用高介电常数材料的 InAs/AlGaSb HEMT 的制备和评估
DOI: --
发表时间: 2008
期刊:
影响因子: --
作者: [M. Koyama, K. Fujiwara, N. Amano, T. Maemoto, S. Sasa, M. Lnoue, 藤原健司,塩路真広,天野直樹,小山政俊,前元利彦,佐々誠彦,井上正崇]
通讯作者: 藤原健司,塩路真広,天野直樹,小山政俊,前元利彦,佐々誠彦,井上正崇
Field characteristjcs of eiectron mobility and velocity in lnAs/AlGaSb HFETs with high-kgate insulators
高K栅极绝缘体的InAs/AlGaSb HFET中电子迁移率和速度的场特性
DOI: --
发表时间: 2007
期刊: American Inst.of Phys.Conf.Proc 893
影响因子: --
作者: [T.Maemoto, M.Koyama, H.Takahashi, S.Sasa, and M.Inoue]
通讯作者: and M.Inoue
InAs/AlGaSb量子細線を有するT字型3分岐構造における電子輸送特性
InAs/AlGaSb量子线T形三分支结构的电子传输特性
DOI: --
发表时间: 2007
期刊:
影响因子: --
作者: [小山 政俊, 中島 貴史, 井上 達也, 天野 直樹, 前元 利彦, 佐々 誠彦, 井上 正崇]
通讯作者: 井上 正崇
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