High spatial-resolution crystal structure analysis using annular dark-field imaging

使用环形暗场成像进行高空间分辨率晶体结构分析

• 批准号: 21510121
• 负责人: KIMOTO Koji
• 金额: $ 3.08万
• 依托单位: National Institute for Materials Science
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21510121/
• 关键词: ナノ材料解析・評価; 電子顕微鏡; 結晶構造

Annular dark-field(ADF) imaging in scanning transmission electron microscopy(STEM) is an effective tool for the characterization of local crystal structure, because ADF imaging has high compositional sensitivity and intuitive interpretability. In this study, we performed high sensitivity and high precision(10pm) analyses of crystal structures using STEM imaging. We revealed the validity of incoherent imaging approximation of ADF imaging. We also achieved so-called spatially-resolved diffractometry, in which the diffraction patterns are fully acquired as a function of probe coordination to investigate the mechanism of STEM imaging.

扫描透射电子显微镜（STEM）中的环形暗场（ADF）成像是表征局部晶体结构的有效工具，因为ADF成像具有较高的成分灵敏度和直观的可解释性。在这项研究中，我们使用 STEM 成像对晶体结构进行了高灵敏度和高精度 (10pm) 分析。我们揭示了 ADF 成像的非相干成像近似的有效性。我们还实现了所谓的空间分辨衍射，其中衍射图案作为探针协调的函数被完全获取，以研究 STEM 成像的机制。

项目成果

Status report of NIMS-Titan ; preliminary results at 80 kV TEM and STEM

NIMS-Titan 的状态报告；

• 发表时间: 2011
• 作者: K. Nishi;I-N. Kim;T. Tai;T. Sugahara;H. Takeyama and H. Ohkawa;Koji KIMOTO
• 通讯作者: Koji KIMOTO

透過電子顕微鏡による原子選択イメージング

使用透射电子显微镜进行原子选择性成像

• 发表时间: 2009
• 作者: M.Yoshida;Y.Watanabe;et al.;木本浩司
• 通讯作者: 木本浩司

Local crystal structure analysis with several picometer precision using scanning transmission electron microscope

使用扫描透射电子显微镜进行几皮米精度的局部晶体结构分析

• 发表时间: 2010
• 期刊: Ultramicroscopy
• 影响因子: 2.2
• 作者: K.Kimoto;T.Asaka;X.Yu;T.Nagai;Y.Matsui;K.Ishizuka
• 通讯作者: K.Ishizuka

Material Characterization with High Spatial Resolution Using Transmission Electron Microscopy and Electron Energy-loss Spectroscopy

使用透射电子显微镜和电子能量损失光谱进行高空间分辨率材料表征

• 发表时间: 2009
• 作者: Yoshi hi ro Mi zut ani ;Naoya Fukuoka;Shi geya Nar it suk;Takahi roMar uyama;K. Kimoto
• 通讯作者: K. Kimoto

電子顕微鏡とその対物レンズ系収差特性の計測方法

电子显微镜及其物镜系统像差特性的测量方法

• 发表时间: 2007