Scanning confocal electron microscopy using two dimensional CCD

使用二维 CCD 的扫描共焦电子显微镜

• 批准号: 21560036
• 负责人: MITSUISHI Kazutaka
• 金额: $ 3.16万
• 依托单位: National Institute for Materials Science
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21560036/
• 关键词: 電子顕微鏡; 共焦点電子顕微鏡; 走査透過電子顕微鏡; 3次元観察

Scanning confocal electron microscopy(SCEM) is a technique that enable to obtain 3D information of a specimen that is usually lost in conventional observation. In this work, SCEM is realized in a conventional microscope by using 2D CCD instead of using a combination of a descan coil and pinhole aperture enabling SCEM in conventional microscopes.

扫描共聚焦电子显微镜（SCEM）是一种能够获得通常在常规观察中丢失的样品三维信息的技术。在这项工作中，SCEM是通过使用2D CCD在传统显微镜中实现的，而不是使用传统显微镜中扫描线圈和针孔孔径的组合来实现SCEM。

项目成果

共焦点暗視野電子顕微鏡法の結像特性

共焦暗场电子显微镜的成像特性

• 发表时间: 2010
• 作者: 三石和貴;他4名
• 通讯作者: 他4名

Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal electron microscopy.

明场和环形暗场扫描共焦电子显微镜的成像特性。

• DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.08.004
• 发表时间: 2010
• 期刊: Ultramicroscopy
• 影响因子: 2.2
• 作者: K. Mitsuishi;A. Hashimoto;M. Takeguchi;M. Shimojo;K. Ishizuka
• 通讯作者: K. Ishizuka

2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法

使用二维探测器的共焦电子显微镜

• 发表时间: 2010
• 作者: 三石和貴;他4名
• 通讯作者: 他4名

Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal

明场和环形暗场扫描共焦的成像特性

• DOI: 10.1016/j.ultramic.2011.10.004
• 发表时间: 2012
• 期刊: UTRAMICROSCOPY
• 作者: 三石和貴;他
• 通讯作者: 他

Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal microscopy II. point spread function analysis

明场和环形暗场扫描共焦显微镜的成像特性 II。

• 发表时间: 2010
• 期刊: Ultramicroscopy
• 影响因子: 2.2
• 作者: K. Mitsuishi;et al.;他4名
• 通讯作者: 他4名