Development of a fast and accurate VLSI diagnostic method with a VLSI fault localization system
Development of a fast and accurate VLSI diagnostic method with a VLSI fault localization system
利用VLSI故障定位系统开发快速准确的VLSI诊断方法
批准号：
21560353
负责人：
MIURA Katsuyoshi
金额：
$2.75万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2009
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2009 至 2011
中文摘要
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英文摘要
We speeded up the scanning laser SQUID microscope(L-SQ) image simulator and the laser terahertz emission microscope(LTEM) image simulator and developed VLSI diagnostic methods utilizing these simulators. The L-SQ image simulator became more the 100 times faster and the LTEM image simulator became about 10 times faster. The developed diagnostic method based on the L-SQ image simulator successfully localized a fault at the first rank. The LTEM image simulator based diagnostic method localized a fault into 8% area from the whole circuit.
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LSI故障解析のためのレーザーテラヘルツエミッション顕微鏡THz波検出信号シミュレーション(II)
激光太赫兹发射显微镜太赫兹波检测信号模拟用于LSI失效分析（二）
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DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
作者：
[三浦克介, 御堂義博]
通讯作者：
御堂義博
LTEMによるLSI故障解析のためのTHz波シミュレーション(II)
使用 LTEM 进行 THz 波模拟 LSI 故障分析（II）
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DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
作者：
[御堂義博, 山下将嗣, 松本徹, 二川清, 中前幸治, 御堂義博, 三浦克介, 三浦克介, 御堂義博]
通讯作者：
御堂義博
電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法
使用扫描激光 SQUID 显微镜进行电流密度分布模拟的 VLSI 诊断方法
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DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
作者：
[御堂義博, 山下将嗣, 松本徹, 二川清, 中前幸治, 御堂義博, 三浦克介]
通讯作者：
三浦克介
LSI故障解析のためのレーザーテラヘルツエミッション顕微鏡THz波検出信号シミュレーション
激光太赫兹发射显微镜 THz 波检测信号模拟用于 LSI 故障分析
激光太赫兹发射显微镜 THz 波检测信号模拟用于 LSI 故障分析
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
作者：
[御堂義博, 山下将嗣, 松本徹, 二川清, 中前幸治, 御堂義博]
通讯作者：
御堂義博
走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法
使用扫描激光 SQUID 显微镜进行模拟的 VLSI 故障缩小方法
使用扫描激光 SQUID 显微镜进行模拟的 VLSI 故障缩小方法
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
作者：
[御堂義博, 山下将嗣, 松本徹, 二川清, 中前幸治, 御堂義博, 三浦克介, 三浦克介]
通讯作者：
三浦克介
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