酸化物極薄膜の構造歪み、及び物性評価
酸化物極薄膜の構造歪み、及び物性評価
批准号:
09J01464
负责人:
河合 正徳
金额:
$0.45万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2009
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2009 至 --
中文摘要
本研究の目的は、酸化物単結晶薄膜の格子歪みを制御し、歪みが薄膜の物性に与える影響を調べることである。そのためには、酸化物単結晶薄膜を下部及び上部電極薄膜で挟んだキャハシタ構造"を作製し、物性評価を行う必要がある。今年度は、リーク電流の少ないキャパシタ(以下、低リークキャパシタ)の作製技術確立を目標とし、下部電極材料の検討及び成長制御を行った。下部電極には、Ptなどの白金系金属または導電性酸化物が用いられる。前者を用いれば低リーク化が期待できるが、単結晶薄膜の形で得られないという問題があった。本研究では、SrTiO_3(100)基板上に、同じ格子サイズをもつPt-Ir合金(Pt_<0.8>Ir_<0.2>)を成長させるという画期的な手法で、白金系金属の下部電極を単結晶薄膜の形で得ることに成功した。さらに、このPt-Ir合金単結晶薄膜の電極としての機能性を確かめるため、電極上に単純な構造を持つ絶縁体酸化物であるNiOの単結晶薄膜および上部Pt電極を成長させその電気特性を評価した結果、このキャパシタが十分に低リークであり、Pt-Ir合金単結晶薄膜が電極として十分に機能することを実証した。白金系の金属電極を用いた"単結晶薄膜キャパシタ"の作製例は本研究が初めてであり、この系の物性評価の結果得られた多くの新知見は高く評価され、非常に多くの注目を集めている。これに関する結果をまとめた2報の論文は、共にApplied Physics Lettersに掲載された。また、本研究では新規機能性酸化物の探索も行った。FeやNiイオンを含むペロブスカイト型酸化物を還元剤CaH2を用いて300℃以下の低温で還元すると、結晶の骨格構造を保ったまま酸素イオンのみが引き抜かれ無限層構造へと変化する。この構造は高温超伝導を示す銅酸化物に見られることから、FeやNiを含む系の物性も非常に注目されている。しかしながら、還元過程における酸素イオン拡散のメカニズムが未解明であり、物性解明はおろか構造変化の制御すら困難であった。本研究では、Fe及びNi酸化物の低温還元過程における構造変化を、単結晶エピタキシャル薄膜を用いて評価することに初めて成功し、低温還元における構造変化に関する重要な知見を得た。これらの結果はNature Chemistryを始めとする各種雑誌に掲載された。
英文摘要
本研究の目的は、酸化物単結晶薄膜の格子歪みを制御し、歪みが薄膜の物性に与える影響を調べることである。そのためには、酸化物単結晶薄膜を下部及び上部電極薄膜で挟んだキャハシタ構造"を作製し、物性評価を行う必要がある。今年度は、リーク電流の少ないキャパシタ(以下、低リークキャパシタ)の作製技術確立を目標とし、下部電極材料の検討及び成長制御を行った。下部電極には、Ptなどの白金系金属または導電性酸化物が用いられる。前者を用いれば低リーク化が期待できるが、単結晶薄膜の形で得られないという問題があった。本研究では、SrTiO_3(100)基板上に、同じ格子サイズをもつPt-Ir合金(Pt_<0.8>Ir_<0.2>)を成長させるという画期的な手法で、白金系金属の下部電極を単結晶薄膜の形で得ることに成功した。さらに、このPt-Ir合金単結晶薄膜の電極としての機能性を確かめるため、電極上に単純な構造を持つ絶縁体酸化物であるNiOの単結晶薄膜および上部Pt電極を成長させその電気特性を評価した結果、このキャパシタが十分に低リークであり、Pt-Ir合金単結晶薄膜が電極として十分に機能することを実証した。白金系の金属電極を用いた"単結晶薄膜キャパシタ"の作製例は本研究が初めてであり、この系の物性評価の結果得られた多くの新知見は高く評価され、非常に多くの注目を集めている。これに関する結果をまとめた2報の論文は、共にApplied Physics Lettersに掲載された。また、本研究では新規機能性酸化物の探索も行った。FeやNiイオンを含むペロブスカイト型酸化物を還元剤CaH2を用いて300℃以下の低温で還元すると、結晶の骨格構造を保ったまま酸素イオンのみが引き抜かれ無限層構造へと変化する。この構造は高温超伝導を示す銅酸化物に見られることから、FeやNiを含む系の物性も非常に注目されている。しかしながら、還元過程における酸素イオン拡散のメカニズムが未解明であり、物性解明はおろか構造変化の制御すら困難であった。本研究では、Fe及びNi酸化物の低温還元過程における構造変化を、単結晶エピタキシャル薄膜を用いて評価することに初めて成功し、低温還元における構造変化に関する重要な知見を得た。これらの結果はNature Chemistryを始めとする各種雑誌に掲載された。
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Local analysis of the edge disolcation core in BaTiO_3 thin film by STEM-EELS
BaTiO_3薄膜中边缘溶离核的STEM-EELS局部分析
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
Journal of Microscopy 236
影响因子:
--
作者:
[H.Kurata, S.Isojima, M.Kawai, Y.Shimakawa, S.Isoda]
通讯作者:
S.Isoda
DOI:
10.1063/1.3309709
发表时间:
2010-02-15
期刊:
APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子:
4
作者:
[Kawai, Masanori, Ito, Kimihiko, Shimakawa, Yuichi]
通讯作者:
Shimakawa, Yuichi
圧電薄膜、圧電素子、圧電素子の制造方法、液体吐出ヘッドおよび超音波モータ
压电薄膜、压电元件、压电元件的制造方法、液体喷射头以及超声波马达
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Crystal structures and electric properties of(1-χ)BiFeO_3-χ BiCoO_3 thin films prepared by chemical solution deposition
化学溶液沉积法制备(1-χ)BiFeO_3-χ BiCoO_3薄膜的晶体结构及电性能
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
Japanese Journal of Applied PHysics
影响因子:
1.5
作者:
[Y.Nakamura, M.Kawai, M.Azuma, Y.Shimakawa]
通讯作者:
Y.Shimakawa
Pt-Ir合金上に成長させたNiO単結晶エピタキシャル薄膜における抵抗スイッチング
Pt-Ir 合金上生长的 NiO 单晶外延薄膜的电阻切换
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[河合正徳, 伊藤仁彦, 島川祐一]
通讯作者:
島川祐一
共 10 条