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In-situ-Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Keimbildung und Wachstum von binären und ternären quasikristallinen Schichten

In-situ-Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Keimbildung und Wachstum von binären und ternären quasikristallinen Schichten
二元和三元准晶层的成核和生长的原位电子显微镜研究
批准号:
5383557
负责人:
Professor Dr. Rainer Anton
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Priority Programmes
财政年份:
1997
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1996-12-31 至 2000-12-31

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... Keimbildung und Wachstum von dünnen, quasikristallinen Schichten sollen mit Hilfe der Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) untersucht werden. Das Schwergewicht liegt auf simultanen Aufdampftechniken, die u.a. nach eigenen Vorversuchen vielversprechend erscheinen, um zumindest einige der in dünnen Schichten bisher nur schlecht oder gar nicht herstellbaren quasikristallinen Phasen zu realisieren. Dies soll erreicht werden u.a. durch eine genaue Kontrolle der Aufdampfraten der Komponenten und der Substrattemperatur. Dabei sollen die Bedingungen für die Bildung quasikristalliner Schichten von binären und ternären Legierungen aus den Komponenten Al, Mn und Pd, evtl. auch noch Co oder Ni, eingegrenzt werden. ...
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