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In-situ-Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Keimbildung und Wachstum von binären und ternären quasikristallinen Schichten

In-situ-Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Keimbildung und Wachstum von binären und ternären quasikristallinen Schichten
二元和三元准晶层的成核和生长的原位电子显微镜研究
批准号:
5383557
负责人:
Professor Dr. Rainer Anton
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Priority Programmes
财政年份:
1997
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1996-12-31 至 2000-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
..。Keimbildung and Wachstum von dünnen,Quasikristallinen Schichten Sollen MIT Hilfe der Transports-Elektronenmikroskopie(TEM)。从现在起,我们就可以从这一天开始,从现在到现在。所有的错误都发生在我们的脑部和底层。在此基础上,提出了一种新的铝、锰、钯等金属材料,包括镍、锰、钯等元素。..。
英文摘要
... Keimbildung und Wachstum von dünnen, quasikristallinen Schichten sollen mit Hilfe der Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) untersucht werden. Das Schwergewicht liegt auf simultanen Aufdampftechniken, die u.a. nach eigenen Vorversuchen vielversprechend erscheinen, um zumindest einige der in dünnen Schichten bisher nur schlecht oder gar nicht herstellbaren quasikristallinen Phasen zu realisieren. Dies soll erreicht werden u.a. durch eine genaue Kontrolle der Aufdampfraten der Komponenten und der Substrattemperatur. Dabei sollen die Bedingungen für die Bildung quasikristalliner Schichten von binären und ternären Legierungen aus den Komponenten Al, Mn und Pd, evtl. auch noch Co oder Ni, eingegrenzt werden. ...
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