Electron-impact ionization of two-electron systems

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Neben der direkten Ionisation von Atomen und Ionen gibt es zahlreiche indirekte Ionisationsmechanismen, die über mehrfach angeregte Zustände führen. Die dabei auftretenden Resonanzen und Interferenzphänomene sind von großer Bedeutung für die in Plasmaanwendungen benötigten Wirkungsquerschnitte, ihre Berechnung ist jedoch gerade dort schwierig, wo sie besonders wichtig sind, nämlich in Vielelektronensystemen. Experimente werden benötigt, um theoretische Ansätze zu leiten und zu überprüfen. Die Untersuchung von mehrfach angeregten Zuständen von Ionen mit wenigen Elektronen liefert wegen der relativen Einfachheit der Systeme wichtige Aufschlüsse über Vielteilchenwechselwirkungen. Ziel dieses Vorhabens ist das Studium der Erzeugung und des Zerfalls mehrfach angeregter Zustände in Zwei-Elektronensystemen, bei denen die K-Schale einfach oder doppelt angeregt wird. Die Rolle solcher Zustände auf die Gesamtwirkungsquerschnitte für Einfach- und Mehrfachionisation lässt sich am ehesten für Wenig-Elektronen Systeme berechnen. Das gewonnene Verständnis kann dann auf komplexere Systeme übertragen werden, wo indirekte Prozesse oft den Gesamtwirkungsquerschnitt dominieren. Die vorhandene Apparatur bietet ausgezeichnete Möglichkeiten, die Ionisation von Ionen in weltweit einzigartigem Detail entlang von isoelektronischen Reihen zu studieren.