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Electron-impact ionization of two-electron systems

双电子系统的电子轰击电离

基本信息

批准号：
5398262
负责人：
Professor Dr. Alfred Müller
金额：
--
依托单位：
Institut für Atom- und Molekülphysik
依托单位国家：
德国
项目类别：
Research Grants
财政年份：
2003
资助国家：
德国
起止时间：
2002-12-31 至 2005-12-31
项目状态：
已结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5398262?language=en
关键词：
Electron impact ionization two electron

项目摘要

Neben der direkten Ionisation von Atomen und Ionen gibt es zahlreiche indirekte Ionisationsmechanismen, die über mehrfach angeregte Zustände führen. Die dabei auftretenden Resonanzen und Interferenzphänomene sind von großer Bedeutung für die in Plasmaanwendungen benötigten Wirkungsquerschnitte, ihre Berechnung ist jedoch gerade dort schwierig, wo sie besonders wichtig sind, nämlich in Vielelektronensystemen. Experimente werden benötigt, um theoretische Ansätze zu leiten und zu überprüfen. Die Untersuchung von mehrfach angeregten Zuständen von Ionen mit wenigen Elektronen liefert wegen der relativen Einfachheit der Systeme wichtige Aufschlüsse über Vielteilchenwechselwirkungen. Ziel dieses Vorhabens ist das Studium der Erzeugung und des Zerfalls mehrfach angeregter Zustände in Zwei-Elektronensystemen, bei denen die K-Schale einfach oder doppelt angeregt wird. Die Rolle solcher Zustände auf die Gesamtwirkungsquerschnitte für Einfach- und Mehrfachionisation lässt sich am ehesten für Wenig-Elektronen Systeme berechnen. Das gewonnene Verständnis kann dann auf komplexere Systeme übertragen werden, wo indirekte Prozesse oft den Gesamtwirkungsquerschnitt dominieren. Die vorhandene Apparatur bietet ausgezeichnete Möglichkeiten, die Ionisation von Ionen in weltweit einzigartigem Detail entlang von isoelektronischen Reihen zu studieren.

原子的直接电离和离子的直接电离机制，是最重要的。 Die dabei auftretenden Resonanzen und Interferenzphänomene sind von großer Bedeutung für die in Plasmaanwendungen benötigten Wirkungsquerschnitte, ihre Berechnung ist jedoch gerade dort schwierig, wo sie besonders wichtig sind, namlich in Vieleelektronensystemen。实验是本能的，是对 leiten 和 überprüfen 的理论分析。电子设备与电子设备相关的电子设备的最大愤怒是与系统的整体结构有关。 Ziel dieses Vorhabens ist das Studium der Erzeugung und des Zerfachangeregter Zustände in Zwei-Elektronensystemen, bei denen die K-Schale einfach oder doppeltangeregt wird. Die Rolle solcher Zustände auf die Gesamtwirkungsquerschnitte für Einfach- und Mehrfachionization lässt sich am ehesten für Weniig-Elektronen Systeme berechnen。 Das gewonnene Verständnis cann dann auf complexere Systeme übertragen werden, wo indirecte Prozesse oft den Gesamtwirkungsquerschnitt dominieren.以前的设备是由学生进行测量的，在世界范围内电离的详细信息是学生的等电子设备的详细信息。