Passive THz imaging in nanoscale

纳米级被动太赫兹成像

• 批准号: 22656091
• 负责人: KAJIHARA Yusuke
• 金额: $ 2.3万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22656091/
• 关键词: テラヘルツ波; パッシブ計測; エバネッセント波; 赤外光; プローブ顕微鏡; ナノサーモメトリー

We have developed an ultra-sensitive scanning near-field THz microscope with a method of forming a near-field probe and with a home-made scanning probe microscope. With the developed microscope, we have achieved passive near-field images with 60 nm spatial resolution. By studying a GaAs/Au sample at room temperature without an external light, we obtained evanescent field near the surface. Through many experimental examinations, the signal origin was turned out to be thermal charge/current fluctuation, which had not been experimentally probed.

我们已经开发了一种超敏感的扫描近场THZ显微镜，其方法是形成近场探针和自制的扫描探针显微镜。使用已发达的显微镜，我们以60 nm的空间分辨率实现了被动近场图像。通过在没有外部光线的室温下研究GAAS/AU样品，我们获得了表面附近的evan田。通过许多实验检查，信号起源被证明是热电荷/电流波动，尚未经过实验探测。

项目成果

Passive near-field microscopy in long-wavelength infrared region

长波长红外区域的被动近场显微镜

• 发表时间: 2011
• 作者: Y.Kajihara;K.Kosaka;S.Komiyama
• 通讯作者: S.Komiyama

パッシブTHz近接場顕微鏡の工学的アプリケーション

被动太赫兹近场显微镜的工程应用

• 发表时间: 2012
• 作者: 梶原優介;水谷丈洋;小宮山進
• 通讯作者: 小宮山進

Passive Near-Field Microscopy in Long-Wavelength Infrared

• DOI: 10.1380/ejssnt.2011.173
• 发表时间: 2011-04
• 期刊: E-journal of Surface Science and Nanotechnology
• 影响因子: 0.7
• 作者: Y. Kajihara;K. Kosaka;S. Komiyama

照射光源を使用しないテラヘルツ近接場イメージング

无光源照射的太赫兹近场成像

• 发表时间: 2010
• 作者: Y. Kajihara;K. Kosaka;and S. Komiyama;梶原優介,小坂圭史,小宮山進;梶原優介;梶原優介
• 通讯作者: 梶原優介

テラヘルツ領域のパッシブな近接場イメージング

太赫兹范围内的被动近场成像

• 发表时间: 2010
• 作者: Y. Kajihara;K. Kosaka;and S. Komiyama;梶原優介,小坂圭史,小宮山進;梶原優介
• 通讯作者: 梶原優介