Detecting evanescent THz waves with an AFM probe tip

使用 AFM 探针检测倏逝太赫兹波

• 批准号: 20860024
• 负责人: KAJIHARA Yusuke
• 金额: $ 2.1万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)
• 财政年份: 2008
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2008 至 2009
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-20860024/
• 关键词: パッシブイメージング; 原子間力顕微鏡; 近接場顕微鏡; エバネッセント波; テラヘルツ波; 中赤外光; 表面プラズモン; 赤外光; パッシブ計測; エバネッセント光; 近接場光; 散乱型近接場顕微鏡; 自然放出光; テラヘルツ顕微鏡

We developed a scattering-type scanning near-field optical microscope, which does not use any external light source. With the developed microscope, we performed passive near-field microscopy of spontaneous thermal emission. By scanning a near-field probe on a GaAs/Au sample at room temperature without an external light, we obtained near-field components derived from thermally activated surface plasmon on Au. The spatial resolution of 150nm (1/100 of wavelength) was successfully achieved.

我们研制了一种散射式扫描近场光学显微镜，它不使用任何外部光源。利用研制的显微镜，我们对自发热发射进行了被动近场显微镜观察。通过在室温下，在无外光的情况下，对样品进行近场扫描，得到了Au表面等离子体热激活的近场分量。实现了150 nm(波长的1/100)的空间分辨率。

项目成果

A passive long-wavelength infrared microscope with a highly sensitive phototransistor.

• DOI: 10.1063/1.3152224
• 发表时间: 2009-06
• 期刊: The Review of scientific instruments
• 作者: Y. Kajihara;S. Komiyama;P. Nickels;T. Ueda

テラヘルツ顕微鏡の構築とパッシブイメージング

太赫兹显微镜的构建和被动成像

• 发表时间: 2009
• 作者: 梶原優介;小宮山進;パトリック・ニッケルス;上田剛慈
• 通讯作者: 上田剛慈

散乱型近接場顕微鏡によるテラヘルツ自然放出光の超解像イメージング

使用散射近场显微镜对太赫兹自发发射进行超分辨率成像

• 发表时间: 2010
• 作者: 梶原優介;小坂圭史;小宮山進
• 通讯作者: 小宮山進

THz近接場光検出に向けたシアフォース型AFMの開発

太赫兹近场光探测剪切力型原子力显微镜的开发

• 发表时间: 2009
• 作者: 小坂圭史;梶原優介;小宮山進
• 通讯作者: 小宮山進

Passive microscopy in long-wavelength infrared region

长波长红外区域的被动显微镜

• 发表时间: 2009
• 作者: Y.Kajihara;S.Komiyama;K.Kosaka;P.Nickels;T.Ueda
• 通讯作者: T.Ueda