Development of frequency and time resolved SNOM using optical frequency comb

使用光学频率梳开发频率和时间分辨的 SNOM

• 批准号: 23310073
• 负责人: ISHIBASHI Takayuki
• 金额: $ 11.32万
• 依托单位: Nagaoka University of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011-04-01 至 2014-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23310073/
• 关键词: 近接場光学顕微鏡; 偏光特性; FDTDシミュレーション; 磁気光学効果; 近接場磁気光学顕微鏡; 光コム; 近接場; FDTD法

We have developed an apertureless SNOM (a-SNOM), and have studied the polarization properties of the a-SNOM. As a result, we have succeeded to obtain a spatial resolution of approximately 10 nm. In addition, we have also succeeded to resolve a SNOM signal and a background signal. FDTD simulation explained our experimental results well, and consequently, we understood electric fields underneath apertureless probes. Furthermore, we developed a system for time-resolved SNOM measurement.

我们研制了一种无光阑自聚焦光学显微镜（a-SNOM），并研究了其偏振特性。结果，我们成功地获得了约10 nm的空间分辨率。此外，我们还成功地解决了SNOM信号和背景信号。FDTD模拟很好地解释了我们的实验结果，因此，我们了解无孔探针下的电场。此外，我们开发了一个系统的时间分辨SNOM测量。

项目成果

FDTD 法を用いたアパーチャレス反射型近接場顕微鏡における偏光特性の解析(2)

使用FDTD方法分析无孔反射近场显微镜的偏振特性（2）

• 发表时间: 2013
• 作者: 蔡永福;青柳光春;孟倩文;江本顕雄;塩田達俊;小野浩司;石橋隆幸
• 通讯作者: 石橋隆幸

Polarization property of apertureless near-field scanning optical microscopy

无孔径近场扫描光学显微镜的偏振特性

• 作者: Q. Meng;H. Miyajima;Y. Cai;H. Ono;A. Emoto*;T. SHioda;T. Ishibashi
• 通讯作者: T. Ishibashi

FDTD Analysis of Polarization Properties and Backscattering Coefficients in Aperture-less SNOM

• DOI: 10.3379/msjmag.1403r004
• 发表时间: 2014-05
• 期刊: Journal of The Magnetics Society of Japan
• 作者: Yongfu Cai;Qian Meng;A. Emoto;T. Shioda;H. Ono;T. Ishibashi

Development of Apertureless Reflection-mode Magneto-Optical Scanning Near-Field Optical Microscopy

无孔径反射式磁光扫描近场光学显微镜的研制

• 发表时间: 2012
• 作者: M. Aoyagi ;S. Niratisairak ;T. Sioda ;and T. Ishibashi
• 通讯作者: and T. Ishibashi

散乱型SNOM用プローブの偏光状態の電磁界シミュレーション

散射型SNOM探头偏振态电磁场模拟

• 发表时间: 2013
• 期刊: 電気学会研究会資料
• 作者: 蔡永福;孟倩文;小野浩司, 石橋隆幸;塩田達俊;江本顕雄
• 通讯作者: 江本顕雄