Development and application of x-ray analyzers using multiple Bragg diffraction

多重布拉格衍射X射线分析仪的研制与应用

• 批准号: 23540383
• 负责人: HIRANO Keiichi
• 金额: $ 3.24万
• 依托单位: High Energy Accelerator Research Organization
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2013
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23540383/
• 关键词: X線光学; X線多波回折; X線検光子; X線トポグラフィー; 偏光; 検光子; X線; 多波回折; Ｘ線

In materials research using synchrotron x-rays, x-ray polarization analyzer is quite useful for the investigations of strongly correlated systems and magnetism. However, the conventional x-ray analyzer has two disadvantages: 1) the available wavelength is limited and 2) it is insensitive to the helicity of the photons. In order to solve these problems, we have developed and improved the x-ray MBD analyzer which makes use of x-ray-multiple-diffraction by a crystal. Further, we have developed polarization-controlled glancing-angle x-ray topography and observed defects and strain fields located in the surface layer of an epitaxial 4H-SiC wafer.

在利用同步辐射x射线进行材料研究中，x射线偏振仪对于强关联体系和磁性的研究是非常有用的。然而，传统的X射线分析仪有两个缺点：1)可用波长有限；2)它对光子的螺旋度不敏感。为了解决这些问题，我们研制并改进了利用X射线晶体多次衍射的X射线MBD分析仪。此外，我们还发展了偏振控制的掠射角x射线形貌术，并观测到了位于外延4H-SiC片表层的缺陷和应变场。

项目成果

Alイオン注入SiC基板のX線侵入長を制御した斜入射トポグラフィーによる歪分布測定

使用斜入射形貌测量铝离子注入 SiC 衬底的受控 X 射线穿透深度的应变分布

• 发表时间: 2014
• 作者: 高橋由美子;平野馨一;吉村順一;長町信治;古室昌徳
• 通讯作者: 古室昌徳

Development and application of variable-magnification x-ray Bragg magnifiers

变倍X射线布拉格放大器的研制与应用

• DOI: 10.1016/j.nima.2013.12.038
• 发表时间: 2014
• 期刊: Nucl. Instrum and Methods in Phys. Res. A
• 作者: K. Hirano;Y. Takahashi and H. Sugiyama
• 通讯作者: Y. Takahashi and H. Sugiyama

Photon Factory BL-20Bの改造

光子工厂BL-20B改装

• 发表时间: 2014
• 作者: 杉山弘;平野馨一
• 通讯作者: 平野馨一

イオン注入SiC基板のX線侵入長を制御した斜入射トポグラフィー

离子注入 SiC 衬底的受控 X 射线穿透深度的斜入射形貌

• 发表时间: 2014
• 作者: 高橋由美子;平野馨一;吉村順一;長町信治;古室昌徳
• 通讯作者: 古室昌徳

X線拡大素子の基礎評価実験

X射线放大元件的基础评价实验

• 发表时间: 2012
• 作者: 平野馨一;高橋由美子
• 通讯作者: 高橋由美子