Establishment of photocarrier injection method by which electronic properties of strongly correlated materials can be controlled.

建立可控制强相关材料电子特性的光载流子注入方法。

• 批准号: 23540410
• 负责人: MURAOKA Yuji
• 金额: $ 3.16万
• 依托单位: Okayama University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2013
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23540410/
• 关键词: 強相関系; 界面; VO2薄膜; 軟X線照射; 絶縁体金属転移; TaO2; 放射光照射; 金属酸化物; 光キャリア注入; VO2; 薄膜; 放射光

Photocarrier injection to transition metal oxide thin films and the electronic states of the films are investigated. We have observed an insulator-to-metal transition of VO2 thin films induced by soft X-ray irradiation. Electron carriers are injected into the V 3d band upon soft-X ray irradiation. We propose a simple model where the transition is driven by desorption of oxygen from the films. The Fermi surface topology of a metallic VO2 thin film is studied by angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) and the nesting vector is found to be present. Near topmost layer of CrO2 thin films are revealed to be metallic by surface sensitive PES. Also, a single-phase TaO2 thin film and spinodally decomposed (V,Ti)O2 thin film are developed.

研究了过渡金属氧化物薄膜的光生载流子注入及其电子态。我们观察到了软X射线辐照引起的VO2薄膜的绝缘体到金属的转变。在软X射线辐照下，电子载流子注入到V3d带。我们提出了一个简单的模型，其中的过渡是由脱附的氧从薄膜驱动。用角分辨光电子能谱（ARPES）研究了金属VO2薄膜的费米面拓扑结构，发现存在嵌套矢量。表面敏感的PES显示CrO2薄膜的最上层附近是金属。此外，单相TaO2薄膜和调幅分解（V，Ti）O2薄膜的开发。

项目成果

放射光照射によるVO2薄膜への電子キャリア注入

同步辐射辐照将电子载流子注入VO2薄膜

• 发表时间: 2011
• 作者: 村岡祐治;長尾浩樹;脇田高徳;平井正明;横谷尚睦;室隆桂之;為則雄祐
• 通讯作者: 為則雄祐

CrO2単結晶薄膜作製における閉鎖系化学気相法の利点

封闭式化学气相法制备CrO2单晶薄膜的优点

• 发表时间: 2012
• 作者: 村岡祐治;吉田祥;脇田高徳;横谷尚睦
• 通讯作者: 横谷尚睦

VO2薄膜における放射光照射効果

同步辐射对VO2薄膜的影响

• 发表时间: 2011
• 作者: 村岡祐治;片山晋輔;長尾浩樹;脇田高徳;平井正明;横谷尚睦;室隆桂之;泉雄大;為則雄祐
• 通讯作者: 為則雄祐

Surface physical property of the CrO2 thin films prepared using a closed chemical vapor deposition method, Materials Research Society online Proceedings library

采用封闭式化学气相沉积法制备的 CrO2 薄膜的表面物理性质，材料研究学会在线论文集库

• 发表时间: 2011
• 期刊: Function Metal-Oxide Nanostructures
• 作者: Y. Muraoka;S. Yoshida;T. Wakita;M. Hirai;T. Yokoya
• 通讯作者: T. Yokoya

岡山大学理学部附属界面科学研究施設 薄膜物性学部門

冈山大学理学院界面科学研究所薄膜物理系