High-speed, High-resolution and Non-destructive Characterization Technique for Next-generation HTS Wire as a Fundamental Technology for Its Application to Electric Power Devices

下一代高温超导线材的高速、高分辨率、无损表征技术是其在电力器件中应用的基础技术

• 批准号: 23760263
• 负责人: HIGASHIKAWA Kohei
• 金额: $ 2.83万
• 依托单位: Kyushu University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23760263/
• 关键词: 高温超伝導線材; 臨界電流密度分布; 局所不均一性; 非破壊評価; 磁気顕微鏡; 走査型ホール素子顕微鏡

High-speed, high-resolution and non-destructive characterization technique for 2nd-generation high-temperature superconducting (2G HTS) wire has been successfully developed in this program. Improving the characterization speed to 200 times faster, the technique has finally visualized in-plane distribution of local critical current density for a 2G HTS wire at a characterization speed equivalent of itsmanufacturing speed with the spatial resolution of 1 mm. This technique will be a very powerful tool for overcoming the problem of spatial inhomogeneity in 2G HTS wires intended to electric power applications

成功开发了第二代高温超导（2G HTS）线材的高速、高分辨率、无损表征技术。该技术将表征速度提高了200倍，最终实现了2G高温超导线的局部临界电流密度的平面内分布，表征速度相当于其制造速度，空间分辨率为1mm。该技术将成为克服电力应用中2G高温超导线空间不均匀性问题的有力工具

项目成果

Nondestructive RtR characterization of long GdBCO coated conductor

长 GdBCO 涂层导体的无损 RtR 表征

• 发表时间: 2012
• 作者: K. Higashikawa;K. Shiohara;M. Inoue;T. Kiss;T. Machi;N. Chikumoto;S. Lee;K. Tanabe;T. Izumi;H. Okamoto;K. Higashikawa et al
• 通讯作者: K. Higashikawa et al

Nondestructive reel-to-reel characterization system for in-plane 2D distribution of critical current density in long coated conductors (invited)

用于长涂层导体中临界电流密度面内二维分布的无损卷对卷表征系统（邀请）

• 作者: K. Higashikawa;K. Okumura;K. Shiohara;K. Imamura;M. Inoue;T. Kiss;K. Kimura;T. Koizumi;N. Aoki;Y. Shingai;M. Konishi;K. Ohmatsu;T. Machi;M. Yoshizumi;T. Izumi
• 通讯作者: T. Izumi

受賞:東川甲平, 平成 25 年度低温工学・超電導学会奨励賞

获奖：东川航平，2013年度日本低温工程学会和超导学会鼓励奖

長尺 RE-123 線材の面内臨界電流密度分布の非破壊評価に向けた走査型ホール素子顕微鏡システムの高速化

高速扫描霍尔元件显微镜系统，用于无损评估长 RE-123 导线的面内临界电流密度分布

• 发表时间: 2011
• 作者: Chuyen T. Nguyen;Kazunori Hayashi;Megumi Kaneko;Petar Popovski and Hideaki Sakai;東川甲平
• 通讯作者: 東川甲平

High-speed scanning Hall-probe microscopy for two-dimensional characterization of local critical current density in long-length coated conductor

高速扫描霍尔探针显微镜用于长涂层导体局部临界电流密度的二维表征

• DOI: 10.1016/j.phpro.2012.03.452
• 发表时间: 2012
• 期刊: Physics Procedia
• 作者: K. Higashikawa;K. Shiohara;Y. Komaki;K. Okumura;K. Imamura;M. Inoue;T. Kiss;Y. Iijima;T. Saitoh;T. Machi;M. Yoshizumi;T. Izumi;H. Okamoto
• 通讯作者: H. Okamoto