Development of Spherical Aberration Correction Technique for Electron Optical Systems using an Annular Objective Pupil and an Auxiliary Proximity Electrode
Development of Spherical Aberration Correction Technique for Electron Optical Systems using an Annular Objective Pupil and an Auxiliary Proximity Electrode
使用环形物镜光瞳和辅助接近电极开发电子光学系统球差校正技术
批准号：
24360020
负责人：
IKUTA TAKASHI
金额：
$12.06万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-04-01 至 2015-03-31
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輪帯照射を用いた走査型位相差光学顕微鏡による生体組織細胞の観察
使用环形照射的扫描相差光学显微镜观察生物组织细胞
使用环形照射的扫描相差光学显微镜观察生物组织细胞
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
生体医工学シンポジウム2013講演予稿集
影响因子：
--
作者：
[三宅泰広, 日坂真樹, 生田孝]
通讯作者：
生田孝
Phase reconstruction in annular bright-field STEM
环形明场 STEM 中的相位重建
环形明场 STEM 中的相位重建
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[T. Ishida, T. Kawasaki, T. Kodama, K. Ogai, T. Ikuta and T. Tanji]
通讯作者：
T. Ikuta and T. Tanji
走査透過電子顕微鏡による位相計測のための電子検出器の開発II
使用扫描透射电子显微镜进行相位测量的电子检测器的开发II
使用扫描透射电子显微镜进行相位测量的电子检测器的开发II
DOI：
--
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
作者：
[石田高史, 児玉哲司, 小粥啓子, 生田孝]
通讯作者：
生田孝
Experiments on focal depth extension of aberration-corrected scanning transmission electron microscope with annular aperture.
环形孔径像差校正扫描透射电子显微镜焦深扩展实验
环形孔径像差校正扫描透射电子显微镜焦深扩展实验
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[T. Kawasaki, T. Ishida, T. Matsutani, T. Kodama, K. Ogai, T. Ikuta, M. Ichihashi, T. Tanji]
通讯作者：
T. Tanji
ABF位相法による結晶構造の定量解析
使用ABF相法定量分析晶体结构
使用ABF相法定量分析晶体结构
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[石田高史, 川﨑忠寛, 丹司敬義]
通讯作者：
丹司敬義
共 36 条
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