Development of Spherical Aberration Correction Technique for Electron Optical Systems using an Annular Objective Pupil and an Auxiliary Proximity Electrode
使用环形物镜光瞳和辅助接近电极开发电子光学系统球差校正技术
基本信息
- 批准号:24360020
- 负责人:
- 金额:$ 12.06万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2012
- 资助国家:日本
- 起止时间:2012-04-01 至 2015-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
走査透過電子顕微鏡による位相計測のための電子検出器の開発II
使用扫描透射电子显微镜进行相位测量的电子检测器的开发II
- DOI:
- 发表时间:2012
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:石田高史;児玉哲司;小粥啓子;生田孝
- 通讯作者:生田孝
Experiments on focal depth extension of aberration-corrected scanning transmission electron microscope with annular aperture.
环形孔径像差校正扫描透射电子显微镜焦深扩展实验
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:T. Kawasaki;T. Ishida;T. Matsutani;T. Kodama;K. Ogai;T. Ikuta;M. Ichihashi;T. Tanji
- 通讯作者:T. Tanji
輪帯照射を用いた走査型位相差光学顕微鏡による生体組織細胞の観察
使用环形照射的扫描相差光学显微镜观察生物组织细胞
- DOI:
- 发表时间:2013
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:三宅泰広;日坂真樹;生田孝
- 通讯作者:生田孝
Phase reconstruction in annular bright-field STEM
环形明场 STEM 中的相位重建
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:T. Ishida;T. Kawasaki;T. Kodama;K. Ogai;T. Ikuta and T. Tanji
- 通讯作者:T. Ikuta and T. Tanji
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ patent.updateTime }}
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{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
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