原子間力顕微鏡による単原子の力学的な元素識別
原子間力顕微鏡による単原子の力学的な元素識別
批准号:
14J00689
负责人:
小野田 穣
金额:
$2.91万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2014
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2014-04-25 至 2017-03-31
中文摘要
本研究課題では、原子間力顕微鏡(AFM)によって計測した最大化学結合エネルギーとPaulingの極性共有結合の式を組合わせ、原子スケールでの普遍的な元素識別法を確立することを提案していた。最終年度では、そのような普遍的な元素識別法の確立に成功するだけでなく、同手法によって原子スケールで個々の原子の電気陰性度を決定できることも見出した。本手法の検証のため、Si表面にGe、Sn、Al、Oの単原子を蒸着し、これらの元素とSi探針との間の結合エネルギーを測定した。系統的に結合エネルギーを調べた結果、元素毎に固有の傾きと切片を持つ一次関係を得ることができた。Paulingの式によると、一次関係の傾きは化学結合の共有性を現しており、その値が元素固有であることから元素識別が可能であることが分かった。一方、切片は化学結合のイオン性と関連しており、電気陰性度を評価できることが示唆される。イオン性を解析した結果、本手法によって元素識別だけでなく、各元素の電気陰性度も決定できることが分かった。更に、より詳細な解析を行った結果、測定対象の原子が同じ元素であっても、その原子の周囲の化学環境が異なる場合、電気陰性度も変化することが判明した。電気陰性度は周期表上では元素毎に固有の値が与えられているが、原子が化学環境の影響を受ける場合は「グループ電気陰性度」と呼ばれており、原子スケールで評価したのは本研究が初である。以上の結果から、本手法は様々な研究に応用できる。例えば触媒反応への応用として、まず初めに電気陰性度測定によって触媒表面や有機分子の化学活性度を評価する。その後、AFM観察によって化学反応を追跡し、反応によって生じた最終生成物の分子や原子を元素識別法によって明らかにすることも可能である。本研究課題の成果は原子スケールの化学や材料科学を基礎と応用の面から発展させていくと期待できる。
英文摘要
本研究課題では、原子間力顕微鏡(AFM)によって計測した最大化学結合エネルギーとPaulingの極性共有結合の式を組合わせ、原子スケールでの普遍的な元素識別法を確立することを提案していた。最終年度では、そのような普遍的な元素識別法の確立に成功するだけでなく、同手法によって原子スケールで個々の原子の電気陰性度を決定できることも見出した。本手法の検証のため、Si表面にGe、Sn、Al、Oの単原子を蒸着し、これらの元素とSi探針との間の結合エネルギーを測定した。系統的に結合エネルギーを調べた結果、元素毎に固有の傾きと切片を持つ一次関係を得ることができた。Paulingの式によると、一次関係の傾きは化学結合の共有性を現しており、その値が元素固有であることから元素識別が可能であることが分かった。一方、切片は化学結合のイオン性と関連しており、電気陰性度を評価できることが示唆される。イオン性を解析した結果、本手法によって元素識別だけでなく、各元素の電気陰性度も決定できることが分かった。更に、より詳細な解析を行った結果、測定対象の原子が同じ元素であっても、その原子の周囲の化学環境が異なる場合、電気陰性度も変化することが判明した。電気陰性度は周期表上では元素毎に固有の値が与えられているが、原子が化学環境の影響を受ける場合は「グループ電気陰性度」と呼ばれており、原子スケールで評価したのは本研究が初である。以上の結果から、本手法は様々な研究に応用できる。例えば触媒反応への応用として、まず初めに電気陰性度測定によって触媒表面や有機分子の化学活性度を評価する。その後、AFM観察によって化学反応を追跡し、反応によって生じた最終生成物の分子や原子を元素識別法によって明らかにすることも可能である。本研究課題の成果は原子スケールの化学や材料科学を基礎と応用の面から発展させていくと期待できる。
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UCL(United Kingdom)
伦敦大学学院(英国)
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Exclusion of H atoms at the subsurface charged regions of TiO2(110)
TiO2(110) 次表面带电区域中 H 原子的排除
DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Jo Onoda, Chi Lun Pang, Ayhan Yurtsever, and Yoshiaki Sugimoto]
通讯作者:
and Yoshiaki Sugimoto
DOI:
10.1103/physrevb.92.155309
发表时间:
2015-10
期刊:
Physical Review B
影响因子:
3.7
作者:
[Jo Onoda;Kohei Niki;Y. Sugimoto]
通讯作者:
Jo Onoda;Kohei Niki;Y. Sugimoto
AFM/STMによるTiO2(011)表面の解析
AFM/STM 分析 TiO2(011) 表面
DOI:
--
发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
--
作者:
[小野田穣, Ayhan Yurtsever,, 阿部真之, Chi Lun Pang, 杉本宜昭]
通讯作者:
杉本宜昭
AFMによる原子レベル元素識別と分子構造イメージング
使用 AFM 进行原子级元素识别和分子结构成像
DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[小野田穣, Chi Lun Pang, Ayhan Yurtsever,, 杉本宜昭, 小野田穣]
通讯作者:
小野田穣
共 41 条
原子間力顕微鏡による二次元ハニカム格子状の単層SiGeの探索
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批准号:16K17482
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.75万
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财政年份:2016
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负责人:小野田 穣
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依托单位: