Local potential structure characterization of polar oxide interfaces by atomic-resolution electric field imaging STEM
Local potential structure characterization of polar oxide interfaces by atomic-resolution electric field imaging STEM
通过原子分辨率电场成像 STEM 表征极性氧化物界面的局部电势结构
批准号：
26289234
负责人：
Shibata Naoya
金额：
$10.32万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2017-03-31
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原子を直接見る顕微鏡－最先端電子顕微鏡の世界－
直接观察原子的显微镜 - 尖端电子显微镜的世界 -
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DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yoshinao Kai, Michitaka Ohtaki, 齋藤彰, 柴田直哉]
通讯作者：
柴田直哉
Differential phase-contrast scanning transmission electron microscopy imaging of materials and devices
材料和器件的微分相差扫描透射电子显微镜成像
材料和器件的微分相差扫描透射电子显微镜成像
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[S. Ghodke, A. Yamamoto, M. Omprakash, H. Ikuta, and T. Takeuchi, N. Shibata]
通讯作者：
N. Shibata
多分割検出器を用いた原子分解能微分位相コントラストSTEM法の開発
使用多段探测器开发原子分辨率微分相衬 STEM 方法
使用多段探测器开发原子分辨率微分相衬 STEM 方法
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yusuke Okamoto, Akihide Kuwabara, Takashi Nakamura, Tatsuya Kawada, Koji Amezawa, 柴田直哉]
通讯作者：
柴田直哉
先進走査透過型電子顕微鏡法の開発と材料界面研究
先进扫描透射电子显微镜和材料界面研究的发展
先进扫描透射电子显微镜和材料界面研究的发展
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[M.Yanagisawa, M.Kunimoto and T.Homma, 1．柴田直哉]
通讯作者：
1．柴田直哉
Development and application of new STEM detector
新型STEM探测器的研制及应用
新型STEM探测器的研制及应用
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Zhang Yang, Xue Dezhen, Wu Haijun, Ding Xiangdong, Lookman Turab, X. Ren, N. Shibata]
通讯作者：
N. Shibata
共 71 条
Development of real space charge density mapping method using atomic-resolution DPC STEM and its application to material interfaces
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批准号：17H01316
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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资助金额：$27.79万
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财政年份：2017
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负责人：Shibata Naoya
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依托单位：
海外基金