Development of scanning nonlinear dielectric potentiometry and its applications to electronic materials and devices evaluation

扫描非线性介电电位法的发展及其在电子材料与器件评价中的应用

• 批准号: 15K04673
• 负责人: Yamasue Kohei
• 金额: $ 3.24万
• 依托单位: Tohoku University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2015
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2015-04-01 至 2018-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-15K04673/
• 关键词: 走査型非線形誘電率顕微鏡; 走査型非線形誘電率ポテンショメトリ; 自発分極; 永久双極子; 走査型プローブ顕微鏡; グラフェン; 層状物質

项目成果

Polarization Charge Density Measurement by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry

非接触式扫描非线性介电电位法测量极化电荷密度

• 发表时间: 2016
• 作者: K. Yamasue;and Y. Cho
• 通讯作者: and Y. Cho

非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによるSi(111)-(7×7)表面における分極電荷密度の原子スケール観察

非接触扫描非线性介电常数电位法原子尺度观察Si(111)-(7×7)表面极化电荷密度

• 发表时间: 2016
• 作者: Kohei Yamasue;Hirokazu Fukidome;Kazutoshi Funakubo;Maki Suemitsu;and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;山末 耕平，加藤 俊顕，金子 俊郎，長 康雄;山末 耕平，長 康雄;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;山末 耕平，長康雄;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;山末 耕平，長 康雄
• 通讯作者: 山末 耕平，長 康雄

走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる表面自発分極の測定に関する検討

扫描非线性介电常数电位法测量表面自发极化的研究

• 发表时间: 2016
• 作者: Kohei Yamasue;Hirokazu Fukidome;Kazutoshi Funakubo;Maki Suemitsu;and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;山末 耕平，加藤 俊顕，金子 俊郎，長 康雄;山末 耕平，長 康雄;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;山末 耕平，長康雄;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;山末 耕平，長 康雄;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;Kohei Yamasue and Yasuo Cho;山末 耕平，長 康雄
• 通讯作者: 山末 耕平，長 康雄

Local Carrier and Charge Distribution Imaging on Molybdenum Disulfide by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

通过扫描非线性介电显微镜对二硫化钼进行局部载流子和电荷分布成像

• 发表时间: 2017
• 作者: Kota Ido;Takahiro Misawa;Yamagishi K;K. Yamasue and Y. Cho
• 通讯作者: K. Yamasue and Y. Cho

Introduction of Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Its Applications to the Evaluation of Electronic Materials and Devices

扫描非线性介电显微镜简介及其在电子材料与器件评估中的应用

• DOI: 10.1541/ieejjournal.137.697
• 发表时间: 2017
• 期刊: The Journal of The Institute of Electrical Engineers of Japan
• 作者: 松木 伸行;オローク ブライアン;大島 永康;上殿 明良;山末 耕平，茅根 慎通，長 康雄
• 通讯作者: 山末 耕平，茅根 慎通，長 康雄