contact area control of non-destructive contact probe
contact area control of non-destructive contact probe
无损接触式探头接触面积控制
批准号：
16K06283
负责人：
Yoshitake Michiko
金额：
$3.0万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-04-01 至 2019-03-31
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非破壊電気コンタクトプローブの評価
无损电接触探头的评估
无损电接触探头的评估
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[吉武 道子, 塩見 俊樹, 木下 健太郎, 岸田 悟]
通讯作者：
岸田 悟
二次元超薄膜への可逆的非破壊・接触面積制御電気コンタクト
可逆、非破坏性、接触面积控制与二维超薄膜的电接触
可逆、非破坏性、接触面积控制与二维超薄膜的电接触
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[加藤諒, 川村昌平, 廣瀬将人, 田橋正浩, 後藤英雄, 高橋誠, 竹内誠，武藤浩行，藤田直幸, 吉武道子]
通讯作者：
吉武道子
非破壊コンタクト面積制御型プローブによる電気抵抗測定
使用非破坏性接触面积控制探头进行电阻测量
使用非破坏性接触面积控制探头进行电阻测量
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[川村昌平, 高橋誠, 加藤諒, 田橋正浩, 後藤英雄, 藤田直幸, 吉武道子，肥田聡太，森山拓洋，岸田悟，木下健太郎]
通讯作者：
吉武道子，肥田聡太，森山拓洋，岸田悟，木下健太郎
接触面積を制御したnm薄膜に非破壊で電気コンタクトするプローブの開発
开发一种探针，可与接触面积受控的纳米薄膜进行非破坏性电接触
开发一种探针，可与接触面积受控的纳米薄膜进行非破坏性电接触
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[吉武道子, 柳生進二郎, 知京豊裕]
通讯作者：
知京豊裕
Formation of Non-Destructive Reversible Electric Contact to nm-Thick Films
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批准号：25420306
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额：$3.33万
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财政年份：2013
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负责人：Yoshitake Michiko
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依托单位：
海外基金