Elucidation of the overglazing technique by analyzed organic material contained in overglaze color layer of ceramics

通过分析陶瓷釉上彩层中所含的有机物质来阐明釉上彩技术

• 批准号: 16K01188
• 负责人: HIGUCHI Tomohiro
• 金额: $ 3万
• 依托单位: Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2016
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2016-04-01 至 2019-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-16K01188/
• 关键词: 陶磁器; 有機物; 製作技法; TOF-SIMS; 赤外放射光; 文化財科学

项目成果

セラミックス製品における残存有機物分析

陶瓷制品中残留有机物分析

• 发表时间: 2016
• 作者: Yoshiko SASAKI;Ryohei FUKAE;and Ken SASAKI;宇田津徹朗，石川隆二，佐藤雅志，山口聰，ドリアン・Q・フラー，田中克典;佐々木良子，吉田直人，佐々木健;田中克典，宇田津徹朗，石川隆二，佐藤雅志，山口聰，ドリアン・Q・フラー;佐々木良子，関地久治，仲政明，佐々木健;田中直子，佐々木良子;佐々木良子，行谷吉男，萩原理一，藤井健三，並木誠士，西村太良，佐々木健;佐々木良子，藤井健三，佐々木健;佐々木良子，吉田直人，佐々木健;佐々木良子，深江亮平，佐々木健;佐々木良子，深江亮平，佐々木健;佐々木良子，藤井健三，佐々木健;佐々木良子，吉田直人，佐々木健;樋口智寛
• 通讯作者: 樋口智寛

陶磁器の上絵層における有機物分析の試み－赤外放射光分析による焼成に伴う膠成分の変化に関する検討－

尝试分析陶瓷釉层中的有机物 - 利用红外同步辐射分析研究烧成引起的胶成分的变化 -

• 发表时间: 2017
• 作者: 樋口智寛;二宮修治;新免歳靖;水本和美
• 通讯作者: 水本和美

陶磁器の上絵層における有機物分析の試み－飛行時間型二次イオン質量分析による上絵層と釉薬層との界面の成分に関する検討－

尝试分析陶瓷釉层中的有机物 - 使用飞行时间二次离子质谱法研究釉层和釉层界面的成分 -

• 发表时间: 2019
• 作者: 樋口智寛;水本和美;新免歳靖;二宮修治
• 通讯作者: 二宮修治

陶磁器の上絵層における有機物分析の試み－飛行時間型二次イオン質量分析および赤外放射光分析による焼成に伴う膠およびふのり成分の変化に関する検討－

尝试分析陶瓷釉层中的有机物 - 使用飞行时间二次离子质谱法和红外同步辐射光谱法检查烧成过程中胶和胶成分的变化 -

• 发表时间: 2018
• 作者: 樋口智寛;水本和美;新免歳靖;高橋佳久;伊藤鈴音;二宮修治
• 通讯作者: 二宮修治