High-speed in situ X-ray diffraction for dislocation control in semiconductor crystal growth
用于半导体晶体生长中位错控制的高速原位 X 射线衍射
基本信息
- 批准号:17H02778
- 负责人:
- 金额:$ 11.56万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2017
- 资助国家:日本
- 起止时间:2017-04-01 至 2020-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
III-V Semiconductor Thin-Film Growth
III-V 族半导体薄膜生长
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:W. Voegeli;M. Takahasi;T. Sasaki;S. Fujikawa;T. Shirasawa;E. Arakawa;T. Takahashi;T. Matsushita
- 通讯作者:T. Matsushita
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- DOI:
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:A. Ogawa;H. Tanaka;S. Ohno;M. Tanaka;K. Miki;S. Ogawa; Y.Takakuwa;三木一司;高橋正光
- 通讯作者:高橋正光
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In Situ Synchrotron X-ray Diffraction Reciprocal Space Mapping Measurements in the RF-MBE Growth of GaInN on GaN and InN
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- 影响因子:2.7
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- 影响因子:0
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Takahasi Masamitu
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