Development of a microfabrication/analysis system using a probe microscope capable of irradiating an atmospheric pressure plasma jet

开发使用能够照射大气压等离子体射流的探针显微镜的微加工/分析系统

基本信息

  • 批准号:
    17H03156
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.32万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2017
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2017-04-01 至 2020-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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专利数量(0)
走査型ナノピペットプローブ顕微鏡を用いて局所照射した水蒸気添加の大気圧プラズマジェットによるポリマー表面の微細加工
使用扫描纳米移液器探针显微镜,使用局部照射的水蒸气添加大气压等离子体射流对聚合物表面进行微加工
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    山本 将;森松 大亮;中村 篤志;荻野 明久,永津 雅章;岩田 太
  • 通讯作者:
    岩田 太
Fine Processing of materials by localized atmospheric pressure plasma jet using a scanning nanopipette probe microscope
使用扫描纳米移液管探针显微镜通过局部大气压等离子体射流对材料进行精细加工
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    小川欽也;山田浩之;山田浩之;戸田 竣,下村 勝,荻野 明久,永津 雅章,中澤 謙太,岩田 太;戸田 竣,岩田 太;F. Iwata
  • 通讯作者:
    F. Iwata
A novel fine deposition technique using ananopipette probe microscope capable of irradiation of alocalized APPJ
一种新型精细沉积技术,使用能够照射局部 APPJ 的纳管探针显微镜
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    S. Yamamoto;D. Morimatsu;M. Shimomura;A. Ogino;M. Nagatsu;and F. Iwata
  • 通讯作者:
    and F. Iwata
Fine processing of polymer by localized atmospheric pressure plasma jet using helium source gas mixed with reactive gas
使用氦源气体与反应气体混合的局部大气压等离子体射流精细加工聚合物
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    S. Yamamoto;D. Morimatsu;A;Nakamura;A;Ogino;M;Nagatsu;F. Iwata
  • 通讯作者:
    F. Iwata
ナノピペットを有するプローブ顕微鏡を用いた大気圧プラズマジェットの局所照射による微細堆積加工法の開発
使用配备纳米移液管的探针显微镜开发利用大气压等离子体射流局部照射的微沉积加工方法
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Masaaki Nagatsu;Kazuya Sugiyama;Iuliana Motrescu;Mihai Alexandru Ciolan;Akihisa Ogino; Naohisa Kawamur;Sakai Mikio;山本 将,森松 大亮,下村 勝,荻野 明久,永津 雅章,岩田 太
  • 通讯作者:
    山本 将,森松 大亮,下村 勝,荻野 明久,永津 雅章,岩田 太
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Iwata Futoshi其他文献

Development of scanning capacitance force microscopy using the dissipative force modulation method
使用耗散力调制方法开发扫描电容力显微镜
  • DOI:
    10.1088/1361-6501/ab5373
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.4
  • 作者:
    Uruma Takeshi;Satoh Nobuo;Yamamoto Hidekazu;Iwata Futoshi
  • 通讯作者:
    Iwata Futoshi
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  • DOI:
    10.1093/jmicro/dfab009
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.8
  • 作者:
    Iwata Futoshi;Shirasawa Tatsuru;Mizutani Yusuke;Ushiki Tatsuo
  • 通讯作者:
    Ushiki Tatsuo
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  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.6
  • 作者:
    Uruma Takeshi;Tsunemitsu Chiaki;Terao Katsuki;Nakazawa Kenta;Satoh Nobuo;Yamamoto Hidekazu;Iwata Futoshi
  • 通讯作者:
    Iwata Futoshi
Visualization of Sampling and Ionization Processes in Scanning Probe Electrospray Ionization Mass Spectrometry
扫描探针电喷雾电离质谱中采样和电离过程的可视化
  • DOI:
    10.5702/massspectrometry.s0078
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kamihoriuchi Bui;Otsuka Yoichi;Takeuchi Aya;Iwata Futoshi;Matsumoto Takuya
  • 通讯作者:
    Matsumoto Takuya

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  • 发表时间:
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  • 作者:
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  • 通讯作者:
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    2020
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    $ 11.32万
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    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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    2019
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    $ 11.32万
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    Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
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    2016
  • 资助金额:
    $ 11.32万
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    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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  • 批准号:
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    2014
  • 资助金额:
    $ 11.32万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

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    2023
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    $ 11.32万
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    2023
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  • 批准号:
    09J07642
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    2009
  • 资助金额:
    $ 11.32万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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  • 批准号:
    06J02787
  • 财政年份:
    2006
  • 资助金额:
    $ 11.32万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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  • 批准号:
    17655058
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    2005
  • 资助金额:
    $ 11.32万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
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  • 批准号:
    15651050
  • 财政年份:
    2003
  • 资助金额:
    $ 11.32万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
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  • 批准号:
    02F00317
  • 财政年份:
    2002
  • 资助金额:
    $ 11.32万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
ヘテロ半導体-分子ナノ構造の創製と走査型プローブ顕微鏡を用いた構造・電子状態の解析
使用扫描探针显微镜创建异质半导体分子纳米结构并分析结构和电子状态
  • 批准号:
    02F02317
  • 财政年份:
    2002
  • 资助金额:
    $ 11.32万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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作者:{{ showInfoDetail.author }}

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