3-D scanning deflectometric profiler using self-calibration rotary encoder
3-D scanning deflectometric profiler using self-calibration rotary encoder
使用自校准旋转编码器的 3D 扫描偏转轮廓仪
批准号：
17H04901
负责人：
Kondo Yohan
金额：
$15.56万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
财政年份：
2017
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2017-04-01 至 2020-03-31
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Self-Calibration Method of Nanometer Profile Measurement on Large Aspheric Optical Surface
大非球面光学表面纳米轮廓测量的自校准方法
大非球面光学表面纳米轮廓测量的自校准方法
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Tomohiko Takamura, Yohan Kondo, Youichi Bitou, Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu]
通讯作者：
Kiyoshi Takamasu
Nanometer Profile Measurement on Large Aspheric Optical Surface
大非球面光学表面的纳米轮廓测量
大非球面光学表面的纳米轮廓测量
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Xiang Guo, Satoru Takahashi, Yohan Kondo, Youichi Bitou, Kiyoshi Takamasu]
通讯作者：
Kiyoshi Takamasu
Scanning Deflectometric Profiler (SDP) systems at NMIJ
NMIJ 的扫描偏转轮廓仪 (SDP) 系统
NMIJ 的扫描偏转轮廓仪 (SDP) 系统
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[尾藤 洋一, 近藤 余範]
通讯作者：
近藤 余範
Φ450 mmオプチカルフラットの絶対平面度測定
Φ450mm光学平面绝对平面度测量
Φ450mm光学平面绝对平面度测量
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[近藤 余範, 尾藤 洋一]
通讯作者：
尾藤 洋一
角度測定を利用した高精度形状計測
使用角度测量进行高精度形状测量
使用角度测量进行高精度形状测量
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Hayato Sano, Akihiro Matsutani, Fumio Koyama, 東保男]
通讯作者：
東保男
共 6 条
Development of deflectmetric profiler using self-calibratable rotary encoder
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批准号：26820028
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项目类别：Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额：$2.5万
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财政年份：2014
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负责人：Kondo Yohan
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依托单位：