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光半導体と画像処理を用いた赤外線レーザのビームプロファイル高精度計測技術の開発

光半導体と画像処理を用いた赤外線レーザのビームプロファイル高精度計測技術の開発
开发利用光学半导体和图像处理的红外激光光束轮廓的高精度测量技术
批准号:
23K03878
负责人:
沼田 孝之
金额:
$2.83万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2023
资助国家:
日本
项目状态:
未结题
起止时间:
2023-04-01 至 2026-03-31

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