Fabrication of Reliable Metallic Nanowire Transparent Conductive Film with Clarification of Electrical Breakdown
Fabrication of Reliable Metallic Nanowire Transparent Conductive Film with Clarification of Electrical Breakdown
制造可靠的金属纳米线透明导电薄膜并澄清电击穿
批准号：
26820001
负责人：
Li Yuan
金额：
$2.5万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2017-03-31
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銀ナノワイヤメッシュの溶断挙動に与える電気的境界条件の影響
电边界条件对银纳米线网熔合行为的影响
电边界条件对银纳米线网熔合行为的影响
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[土屋薫, 李渊, 坂真澄]
通讯作者：
坂真澄
DOI：
10.1016/j.microrel.2016.08.002
发表时间：
2016-10
期刊：
Microelectron. Reliab.
影响因子：
--
作者：
[Yuan Li;Hsin-Tzu Lee;M. Saka]
通讯作者：
Yuan Li;Hsin-Tzu Lee;M. Saka
Influence of thermal boundary conditions on melting behavior of an Ag nanowire mesh induced by Joule heating
热边界条件对焦耳热诱导银纳米线网熔化行为的影响
热边界条件对焦耳热诱导银纳米线网熔化行为的影响
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y. Li, K. Tsuchiya, M. Saka]
通讯作者：
M. Saka
銀微細ワイヤメッシュにおける電気的挙動の解明に関する研究
银细丝网电行为阐明的研究
银细丝网电行为阐明的研究
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[野口恭平, 李渊, 坂真澄]
通讯作者：
坂真澄
銀ナノワイヤメッシュの電気的溶断への腐食の影響
腐蚀对银纳米丝网电熔合的影响
腐蚀对银纳米丝网电熔合的影响
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[土屋薫, 李渊, 坂真澄]
通讯作者：
坂真澄
共 9 条
Fabrication of CuO-Ag nanostructure by diffusion and its development
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批准号：18K13659
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项目类别：Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
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资助金额：$2.66万
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财政年份：2018
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负责人：Li Yuan
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依托单位：