Herstellung und Eigenschaften von elektrochemisch abgeschiedenen Kupferkompositschichten mit eingelagerten Kohlenstoffnanoröhren
Herstellung und Eigenschaften von elektrochemisch abgeschiedenen Kupferkompositschichten mit eingelagerten Kohlenstoffnanoröhren
批准号:
92874263
负责人:
Dr. Thomas Gemming
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2008
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2007-12-31 至 2010-12-31
中文摘要
前言项目是指由机械特征(CNT)和机械特征、电子特征、热敏特征和磁性特征组成的机械特征。修改。金属基复合材料是一种高级制造工艺,在优化工艺中金属的特征和特征阶段。微电子技术中的电气化学特性综合实验和理论。这是因为 CNT-Cu-Kompositschichten nicht nur die mechanisschaften, sondern auch der Widerstand gegen spannungsinduzierte Migration im Vergleich zu Cu-Schichten erhöht sind。碳纳米管的 Kupfers 问题将在极端情况下发生,并与 Atomlagenabscheidung (ALD) 中的 Ru-Zwischenschicht mittels der Atomlagenabscheidung (ALD) erfolgen oder durch Zugabe von Additiven zum Elektrolyten (Funktionalisierung) der CNTs)verbesert werden。 Des Weiteren soll auch an (magnetisch) gefüllten CNT undersucht werden, inwieweit sich die magnetischen oder elektrischen Eigenschaften der Kompositschichten gezielt variieren lassen. Ein weiteres Ziel ist die ultrasuchung der Grenzflächenhaftung zwischen CNT und Kupfer mit Pull-Out-Experimenten
英文摘要
Ziel des vorliegenden Projektes ist es, die mechanischen Eigenschaften von Dünnschichten durch Einlagerung von Kohlenstoffnanoröhren (CNT) mit ihren charakteristischen mechanischen, elektronischen, thermischen und magnetischen Eigenschaften zu verbessern bzw. gezielt zu modifizieren. Metallmatrix-Kompositmaterialien stellen eine hochinteressante Werkstoffklasse dar, in der die Eigenschaften der Metalle mit denen der Einlagerungsphase in optimaler Weise miteinander verknüpft werden können. Die Eigenschaften der durch elektrochemischen Abscheidung hergestellten Komposite in Dünnschichtform werden experimentell und theoretisch mit aktuellen Cu- und Cu(Ag)-Legierungsschichten der Mikroelektronik verglichen. Es wird erwartet, dass bei derartigen CNT-Cu-Kompositschichten nicht nur die mechanischen Eigenschaften, sondern auch der Widerstand gegen spannungsinduzierte Migration im Vergleich zu Cu-Schichten erhöht sind. Die schlechte Benetzung des Kupfers auf den CNTs soll entweder über das Aufbringen einer extrem dünnen Ta- oder Ru-Zwischenschicht mittels der Atomlagenabscheidung (ALD) erfolgen oder durch Zugabe von Additiven zum Elektrolyten (Funktionalisierung der CNTs) verbessert werden. Des Weiteren soll auch an (magnetisch) gefüllten CNTs untersucht werden, inwieweit sich die magnetischen oder elektrischen Eigenschaften der Kompositschichten gezielt variieren lassen. Ein weiteres Ziel ist die intensive Untersuchung der Grenzflächenhaftung zwischen CNT und Kupfer mit Pull-Out-Experimenten
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Lokale Messung innerer Dehnungen mit konvergenter Elektronenbeugung in Al- und Cu-Leiterbahnen von Oberflächenwellenfiltern
-
批准号:5388874
-
项目类别:Research Grants
-
资助金额:$0.0万
-
财政年份:2003
-
负责人:Dr. Thomas Gemming
-
依托单位:
Development of a high-energy-, high-spatial-, and high-momentum-resolution electron energy loss spectrometer with liquid-Helium cooling stage (HR3-EEL spectrometer)
-
批准号:461150024
-
项目类别:New Instrumentation for Research
-
资助金额:$0.0万
-
财政年份:--
-
负责人:Dr. Thomas Gemming
-
依托单位:
海外基金