A verification of One-dimensional degenerate model in Monte-Carlo simulation of SRAM
SRAM蒙特卡罗模拟中一维简并模型的验证
基本信息
- 批准号:22K11963
- 负责人:
- 金额:$ 2.08万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份:2022
- 资助国家:日本
- 起止时间:2022-04-01 至 2025-03-31
- 项目状态:未结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
令和4年度は、第一段階としてSRAMの書き込み動作における一次元縮退モデルの妥当性の検証に注力した。一次元縮退モデルが成立する理由として、記憶回路を構成する6個のトランジスタのうちの特定のものが動作不良に対して支配的に効いていることが推測されるため、まず6個のトランジスタのしきい値電圧(Vth)を個別にばらつかせたモンテカルロシミュレーション(MC)を行った。その結果、支配的に効く2つのトランジスタを特定することができたが、いずれの不良率も6個のトランジスタをばらつかせた実際の不良率より小さく、個々のトランジスタのばらつきだけでは説明がつかないことが判明した。この結果に基づいて理論的考察を進め、上記二つのトランジスタのVthの相対的なずれが一定以上になった際に書き込み不良が起きることを突き止め、上記二つのVthの確率分布から、畳み込み積分によって不良率の分布を算出する式を導出した。この式は一次元のガウス分布となっており、一次元縮退モデルが成立することが示されたが、式から算出される不良率は6個のトランジスタをすべてばらつかせた場合の不良率よりも大きく、式の精度が不十分であることが分かった。そこで、さらなる高精度化の検討を行い、この誤差が二つのトランジスタの不良に対する動作限界の違いに起因することを突き止め、動作限界をそろえる一種の正規化を行うことで、新たな不良率の分布式を導出した。この式は、分布が一次元であることを示すとともに、6個のトランジスタをすべてばらつかせた実際の不良率とよく一致することが確かめられ、目標としていた一次元縮退モデルの妥当性が示された。本研究成果は、2022年度電気関係学会関西連合大会において発表した。なお、研究に当たっては回路シミュレータとしてHSPICE(Synopsys社製)を導入することにより、高精度の回路シミュレーションを実施した。
In the first paragraph of the year of Ling and 4 years, the first paragraph of the year, the first paragraph, the first paragraph. The reason for an one-time refund is established, and the recording loop is divided into six obsolete activities that are dominated by bad behavior, such as those that are responsible for poor behavior, and those that are responsible for the establishment of an one-time refund. One-time refund is established as a reason for the establishment of an one-time refund, and the loop is recorded as a reason for the establishment of an one-time refund, and the recording loop is divided into six categories that are dominated by the bad behavior of specific customers, such as those dominated by poor behavior, those that are dominated by poor behavior, and those that are not allowed to do so, and those who do not have to pay for the purchase or purchase of a business. Each of the six customers is responsible for the establishment of an one-time refund, and the recording loop is valid for six customers, which is dominated by poor behavior in a specific period. the Vth is responsible for each other. The results of the test, the control of the number of people in the market, the rate of defects in the market, the rate of defects, the rate of defects, the results, the rate of defects, the rate of defects, the rate of Results according to the review of the basic theory, the results of the review of the basic theory, the results of the review of the basic theory, the improvement of the basic theory, the improvement of the basic theory, the comparison of the results of the basic theory, the results of the review of the basic theoretical theory, the One-dimensional distribution of two-dimensional data sets up an one-dimensional regression model to show the defect rate, and the accuracy of the model is not very high, and the accuracy of the model is not very high. High precision, high precision, high precision. The distribution of one-time refund shows that it is appropriate to show that it is appropriate to show that the international defect rate is consistent and that the one-time return is appropriate. The results of this research are listed in the table of the Association for Western Union of the Institute of Electrical Engineering and Engineering in 2022. In order to improve the precision of the circuit, the high-precision circuit is applied when the HSPICE (Synopsys Society) is used.
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
SRAMの書き込み不良率推定における 一次元縮退モデルの妥当性に関する考察
一维简并模型估计SRAM写入缺陷率有效性的思考
- DOI:
- 发表时间:2022
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:松本慎輝;牧野博之
- 通讯作者:牧野博之
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