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Electric induced ionization dynamics of single dopant atom observed by low temperature scanning tunneling microscopy

Electric induced ionization dynamics of single dopant atom observed by low temperature scanning tunneling microscopy
低温扫描隧道显微镜观察单掺杂原子的电致电离动力学
批准号:
26390071
负责人:
Naitou Yuichi
金额:
$3.24万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2014
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2014-04-01 至 2017-03-31

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DOI: 10.1063/1.4979983
发表时间: 2017-04
期刊: AIP Advances
影响因子: 1.6
作者: [Y. Naitou;S. Ogawa]
通讯作者: Y. Naitou;S. Ogawa