Electric induced ionization dynamics of single dopant atom observed by low temperature scanning tunneling microscopy

低温扫描隧道显微镜观察单掺杂原子的电致电离动力学

• 批准号: 26390071
• 负责人: Naitou Yuichi
• 金额: $ 3.24万
• 依托单位: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2014
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2014-04-01 至 2017-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-26390071/
• 关键词: 走査型プローブ顕微鏡; 走査型容量顕微鏡; グラフェン; ドーズ; ヘリウムイオン; ヘリウムイオン顕微鏡; 金属ー絶縁体転移; アンダーソン局在; ヘリウムイオンドープ; 単一欠陥; ヘリウムイオンビーム; 半導体表面; ドーパント; 走査型トンネル顕微鏡

项目成果

Conductivity change of defective graphene by helium ion beams

• DOI: 10.1063/1.4979983
• 发表时间: 2017-04
• 期刊: AIP Advances
• 影响因子: 1.6
• 作者: Y. Naitou;S. Ogawa