Electric induced ionization dynamics of single dopant atom observed by low temperature scanning tunneling microscopy

低温扫描隧道显微镜观察单掺杂原子的电致电离动力学

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Conductivity change of defective graphene by helium ion beams
  • DOI：
    10.1063/1.4979983
  • 发表时间：
    2017-04
  • 期刊：
    AIP Advances
  • 影响因子：
    1.6
  • 作者：
    Y. Naitou;S. Ogawa
  • 通讯作者：
    Y. Naitou;S. Ogawa
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Naitou Yuichi其他文献

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