Development of electron tomography methods for microstructural analysis in crystalline materials
Development of electron tomography methods for microstructural analysis in crystalline materials
用于晶体材料微观结构分析的电子断层扫描方法的开发
批准号：
25286027
负责人：
Hata Satoshi
金额：
$10.23万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2013
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2013-04-01 至 2016-03-31
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ナノ構造解析のための三次元電子顕微鏡法の進展
用于纳米结构分析的三维电子显微镜的进展
用于纳米结构分析的三维电子显微镜的进展
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y. Kanazashi, Y. Nomura, D. Yoshimatsu, K. Iwami, Y. Ohta, N. Umeda, 波多聰]
通讯作者：
波多聰
高傾斜３軸試料ホルダーの高機能化
功能强大的高度倾斜 3 轴样品架
功能强大的高度倾斜 3 轴样品架
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
[波多聰, 宮崎裕也, 光原昌寿, 木本浩司, 池田賢一, 中島英治]
通讯作者：
中島英治
電子線トモグラフィーにおける３次元画像再構成に関連したトピックの紹介 〜材料系の立場から〜
从材料的角度介绍与电子断层扫描中的三维图像重建相关的主题〜
从材料的角度介绍与电子断层扫描中的三维图像重建相关的主题〜
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[波多聰, 山本知一, 松村晶]
通讯作者：
松村晶
Developments in three-dimensional electron microscopy methods for dislocations in crystals
晶体位错三维电子显微镜方法的进展
晶体位错三维电子显微镜方法的进展
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y. Kanazashi, Y. Nomura, D. Yoshimatsu, K. Iwami, Y. Ohta, N. Umeda, 波多聰, ○二又政之，半田紗織，Yu Yingying, 本田諭志 李永波 田口敦清 岩見健太郎 太田善弘 吉松大輝 梅田倫弘, Satoshi Hata]
通讯作者：
Satoshi Hata
透過型電子顕微鏡を用いた3D/4D観察の課題
使用透射电子显微镜进行 3D/4D 观察的问题
使用透射电子显微镜进行 3D/4D 观察的问题
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yosuke Goto, Fujio Ohishi, Kuniaki Tanaka, and Hiroaki Usui, 波多聰]
通讯作者：
波多聰
共 27 条
Development of an in-situ straining and electron tomography imaging system
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批准号：20H02426
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$11.32万
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财政年份：2020
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负责人：Hata Satoshi
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依托单位：
Redefinition of states of short-range order (SRO) in alloys
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批准号：18K18954
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项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
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资助金额：$4.08万
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财政年份：2018
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负责人：Hata Satoshi
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依托单位：
海外基金